[发明专利]带测试模式的DC/DC转换器

说明书

【技术领域】

本发明涉及DC/DC转换器技术领域，特别涉及一种带测试模式的DC/DC转换器。

【背景技术】

直流-直流转换器(DC/DC Converter)是一种常见的、应用广泛的电源管理电路，其不仅能够实现电压源转换，并且具有体积小，结构简单，转换效率高等优点。

传统的DC/DC转换器在晶圆测试时，通常无法通过闭环测试其输出电压，如图1所示，其为现有技术中的一种DC/DC转换器的电路示意图，该DC/DC转换器在晶圆测试时，主要是对参考电压VR进行修调(比如，通过改变参考电压产生电路Dandgap中的电阻来修调其输出的参考电压VR)，使参考电压VR的精度很高。虽然未修调前参考电压VR的误差是输出电压VO产生偏差的主要原因，但如果只将参考电压VR修调准确，由于DC/DC转换器的误差放大器EA还存在一定输入失调电压(其也称为输入偏差电压)，导致大批量生产时芯片之间存在此偏差，这样会导致最终产品的精度较低或满足高精度时良率下降。

因此，有必要提出一种改进的技术方案来克服上述问题。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种带测试模式的DC/DC转换器，其输出电压的精度较高。

为了解决上述问题，本发明提供一种DC/DC转换器，其包括输出电路、PWM控制器、误差放大器、参考电压产生电路、开关器件和测试模式电路。所述输出电路包括功率开关，其用于在功率开关的导通和关断控制下将一输入电压转换为输出电压，并输出该输出电压；所述参考电压产生电路用于产生并输出可修调的参考电压；所述误差放大器的第一输入端与所述参考电压产生电路的输出端相连，其第二输入端与所述输出电路的输出端相连，所述误差放大器的第二输入端与所述输出电路的输出端之间的连接节点为反馈节点，所述误差放大器用于将参考电压与反馈节点的电压的差值进行放大，以生成并输出误差放大电压；所述PWM控制器用于将所述误差放大电压与三角波信号进行比较以生成并输出脉宽调制信号，该脉宽调制信号用于控制所述输出电路中的功率开关的导通和关断；所述测试模式电路包括电源端、接地端、控制端和输出端，其电源端与所述输入电压相连，其接地端与地节点相连，其控制端与所述误差放大器的输出端相连，其输出端经由所述第一开关器件与所述反馈节点相连。

进一步的，所述第一开关器件在所述DC/DC转换器处于测试模式下导通，在所述DC/DC转换器处于非测试模式下关断。当所述DC/DC转换器处于测试模式时，通过测量反馈节点FB的电压得到修调测试电压，基于修调测试电压修调所述参考电压产生电路输出的参考电压的大小，从而将修调测试电压调整至目标电压，在所述DC/DC转换器处于测试模式下时，所述参考电压产生电路、所述误差放大器、所述第一开关器件和所述测试模式电路构成负反馈环路，该负反馈环路在反馈节点的电压等于所述参考电压产生电路输出的参考电压时稳定。

进一步的，所述测试模式电路包括NMOS晶体管MN21和第一电流源I21，

NMOS晶体管MN21的漏极与所述输入电压相连，其栅极与所述误差放大器的输出端相连，其源极与所述第一电流源I21的正极相连，所述第一电流源I21的负极与地节点相连，所述NMOS晶体管MN21和第一电流源I21之间的连接节点与所述第一开关器件的一个连接端相连，所述第一开关器件的另一个连接端与所述反馈节点相连。

进一步的，所述测试模式电路包括NMOS晶体管MN31、PMOS晶体管MP1、第一电流源I31和第二电流源I32。所述第二电流源I32的正极与所述输入电压连接，其负极与所述PMOS晶体管MP1的源极相连；PMOS晶体管MP1的栅极与所述误差放大器的输出端相连，其漏极与地节点相连。所述NMOS晶体管MN31的漏极与所述输入电压相连，其源极与所述第一电流源I31的正极相连，其栅极与PMOS晶体管MP1的源极相连；所述第一电流源I31的负极与地节点相连；所述NMOS晶体管MN31和第一电流源I31之间的连接节点与所述第一开关器件的一个连接端相连，所述第一开关器件的另一个连接端与所述反馈节点相连。

进一步的，PMOS晶体管MP1的阈值电压的绝对值与NMOS晶体管MN31的阈值电压接近或者相等。