[发明专利]一种微纳光自适应探测装置及方法在审

专利信息
申请号: 201410699239.2 申请日: 2014-11-27
公开(公告)号: CN104359463A 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 刘华;丁全心 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人: 胡泳棋
地址: 471009 *** 国省代码: 河南;41
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 微纳光 自适应 探测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种微纳光自适应探测装置,其特征在于,该探测装置包括光源系统、准直系统、第一转换系统、第二转换系统、自适应光电系统、成像系统、探测器和图像处理器,所述光源系统用于提供偏振方向与被测物入射角平行的振光;所述第一转换系统设置在光源系统所产生光的前进方向,用于将光源系统产生的光导入探测器;所述准直系统用于规范光进入探测器的路径,所述第二转换系统用于设置光电装置的构型,所述探测器用于接收所述光电转换,获得的数字图像信号,所述图像处理器与所述探测器连接,用于接收所述探测器所获得的数字图像信号,并对所述数字图像信号进行图像处理,以对被探测目标进行分析测量,获得信息。

2.根据权利要求1所述的微纳光自适应探测装置,其特征在于,所述自适应光电系统包括波前传感器、波前控制器和波前校正器,所述波前传感器用于实时测量从目标或目标附近的信标来的波前误差,所述波前控制器用于将波前传感器所测到的波前畸变信息转化成波前校正器的控制信号,以实现自适应光学系统的闭环控制,所述波前校正器将波前控制器提供的控制信号转变为波前相位变化,以校正光波前畸变。

3.根据权利要求2所述的微纳光自适应探测装置,其特征在于,所述成像系统采用变焦光学系统,由固定组、变焦组和补偿组三组光学透镜组成;

所述变焦组用于自动调整器件位置,连续改变变焦系统的焦距,并通过调整所述变焦组的孔径光阑大小,连续改变变焦系统的入瞳直径;

所述变焦系统根据所述焦距与所述入瞳直径的连续改变,实现对所述成像倍率与所述数值孔径的实时调整,以改变焦光学系统的视场与图像分辨率;

所述补偿组用于与所述变焦组联动,补偿物像距离,以保持成像清晰。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的微纳光自适应探测装置,其特征在于,所述探测器为电荷耦合元件图像传感器或互补金属氧化物半导体图像传感器。

5.一种微纳光自适应探测方法,其特征在于,该探测方法包括以下步骤:

1)产生偏振方向与被测物入射角平行的偏振光;

2)利用自适应光电系统实时测量波前动态误差;

3)利用成像系统根据波前误差调整变焦系统器件位置,以保持成像清晰;

4)利用探测器接收成像系统输出的成像,获得的数字图像信号;

5)利用图像处理器接收探测器所获得的数字图像信号,并对所述数字图像信号进行图像处理,以对被探测目标进行分析测量,获得信息。

6.根据权利要求5所述的微纳光自适应探测方法,其特征在于,所述自适应光电系统包括波前传感器、波前控制器和波前校正器,所述波前传感器用于实时测量从目标或目标附近的信标来的波前误差,所述波前控制器用于将波前传感器所测到的波前畸变信息转化成波前校正器的控制信号,以实现自适应光学系统的闭环控制,所述波前校正器将波前控制器提供的控制信号转变为波前相位变化,以校正光波前畸变。

7.根据权利要求6所述的的微纳光自适应探测方法,其特征在于,所述成像系统采用变焦光学系统,由固定组、变焦组和补偿组三组光学透镜组成;

所述变焦组用于自动调整器件位置,连续改变变焦系统的焦距,并通过调整所述变焦组的孔径光阑大小,连续改变变焦系统的入瞳直径;

所述变焦系统根据所述焦距与所述入瞳直径的连续改变,实现对所述成像倍率与所述数值孔径的实时调整,以改变所述变焦光学系统的视场与图像分辨率;

所述补偿组用于与所述变焦组联动,补偿物像距离,以保持成像清晰。

8.根据权利要求5-7中任一项所述的的微纳光自适应探测方法,其特征在于,所述探测器为电荷耦合元件图像传感器或互补金属氧化物半导体图像传感器。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所,未经中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410699239.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top