[发明专利]结构体和包含结构体的X射线Talbot干涉计

权利要求书

1.一种结构体，依次包括：

具有曲面的树脂层；

含有水溶性聚合物的第一结合层；

具有氢结合表面的第二结合层；以及

金层，

第一结合层处于树脂层的曲面与第二结合层的氢结合表面之间，并且与树脂层的曲面和第二结合层的氢结合表面接触。

2.根据权利要求1的结构体，其中，金层具有多个孔或凹部。

3.根据权利要求2的结构体，其中，该多个孔或凹部具有7以上60以下的纵横比。

4.根据权利要求2的结构体，其中，该多个孔或凹部被以0.5μm以上10μm以下的间隔设置。

5.根据权利要求1的结构体，其中，第二结合层的氢结合表面由来自包括金属氧化物、半金属氧化物、金属氮化物和半金属氮化物的组的一种形成。

6.根据权利要求1的结构体，其中，曲面是球面或圆柱面。

7.根据权利要求2的结构体，其中，该多个孔或凹部被二维布置，并且曲面是球面。

8.根据权利要求2的结构体，其中，该多个孔或凹部被沿一个方向布置，并且曲面是圆柱面。

9.根据权利要求1的结构体，其中，第一结合层含有聚乙烯醇。

10.根据权利要求1的结构体，其中，第二结合层包含多个层。

11.根据权利要求1的结构体，其中，金层具有弯曲形状。

12.一种X射线Talbot干涉计，包括：

衍射光栅，该衍射光栅被配置为使X射线源发射的发散X射线衍射并且形成干涉图案；

遮蔽光栅，该遮蔽光栅被配置为阻挡形成干涉图案的发散X射线的一部分；以及

检测器，该检测器被配置为检测通过遮蔽光栅的发散X射线，

其中，遮蔽光栅包含根据权利要求1～11中的任一项的结构体。

13.一种X射线Talbot干涉计，包括：

源光栅，该源光栅被配置为阻挡由X射线源发射的发散X射线的一部分；

衍射光栅，该衍射光栅被配置为使从源光栅发射的发散X射线衍射并且形成干涉图案；以及

检测器，该检测器被配置为检测通过衍射光栅的发散X射线，

其中，源光栅包含根据权利要求1～11中的任一项的结构体。

14.根据权利要求13的X射线Talbot干涉计，还包括被配置为阻挡形成干涉图案的发散X射线的一部分的遮蔽光栅，其中，遮蔽光栅被设置在衍射光栅与检测器之间。

15.一种结构体的制造方法，包括：

在树脂层的曲面和第二结合层的氢结合表面中的至少一个上施加水性聚合物溶液；

使树脂层与第二结合层在一起，使得曲面通过介于曲面与氢结合表面之间的水性聚合物溶液与氢结合表面接触；

使水性聚合物溶液干燥以形成第一结合层；以及

向第二结合层的与氢结合表面相对的表面施加金层。