[发明专利]一种换向器接触片测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种换向器接触片测量装置，包括尺架、固定套筒、活动测杆、微分筒，所述活动测杆位于固定套筒内并能于固定套筒内移动，所述固定套筒一端与尺架一端固连且活动测杆前端穿过尺架并与另一端相对，所述微分筒套设于固定套筒上并与固定套筒相对移动，其特征在于：所述尺架两端之间设置有测量块，所述测量块上开设有用于容纳接触片的锥形缺口，所述接触片两侧边的夹角角度与锥形缺口的夹角角度相等，所述活动测杆的前端设置有与锥形缺口相应的锥形测头且锥形测头能在锥形缺口内移动。

2.根据权利要求1所述的一种换向器接触片测量装置，其特征在于：所述尺架上设置有与尺架固连的固定杆，所述测量块上轴向开设有贯穿测量块的连接孔，所述固定杆穿过连接孔且测量块能在固定杆上周向转动。

3.根据权利要求2所述的一种换向器接触片测量装置，其特征在于：所述固定杆上设置有与固定杆螺纹连接的可调固定座，所述可调固定座抵在测量块上。

4.根据权利要求1所述的一种换向器接触片测量装置，其特征在于：所述尺架两端之间设置有固定块，所述固定块上开设有装配缺口，所述测量块位于该装配缺口内。

5.根据权利要求4所述的一种换向器接触片测量装置，其特征在于：所述固定块的侧面上设置有调节杆，调节杆前端穿过固定块并伸入装配缺口内抵在测量块上。

6.根据权利要求4所述的一种换向器接触片测量装置，其特征在于：所述装配缺口两内侧壁上开设有对称的卡槽，所述测量块两外侧壁上对称设置有与卡槽相应的卡块，所述卡块位于卡槽内。

7.一种换向器接触片测量方法，包括测量接触片标准件与接触片成型件，其特征在于：包括以下步骤：

S1、将接触片标准件横向放置在测量块的锥形缺口内，并使接触片的两外侧壁与锥形缺口的两内侧壁贴合，使接触片标准间处于待测状态；

S2、将测量块放置于支架内，使测量块的底部抵在支架的一端内侧壁上，使测量块的锥形缺口与活动测杆的锥形测头相对，驱动锥形测头向锥形缺口移动并使锥形测头的端部抵在待测的接触片标准件上，测出接触片标准件的数据，作为参照值；

S3、按照S1、S2的步骤依次将每个待测的接触片成型件放至测量块的锥形缺口内测量，将得出的每一个测量值与参照值对比，若测量值与参照值相同，则接触片成型件合格，若测量值与参照值不同，则接触片成型件不合格。

8.根据权利要求7所述的测量方法，其特征在于：所述步骤S3还包括以下步骤：

a、将接触片成型件放至测量块的锥形缺口内后，目测或者转动接触片成型件，判断接触片成型件的两外侧壁是否分别与锥形缺口两内侧壁贴合，若贴合，则接触片成型件的形状合格，对接触片成型品继续进行测量，若接触片成型件的两外侧壁只有其中一外侧壁与锥形缺口的其中一内侧壁贴合，或者接触片成型件的两外侧壁均不与锥形缺口的两内侧壁贴合，则接触片成型件的形状不合格，即更换下一个待测的接触片成型件。