[发明专利]一种检测设备在审

专利信息
申请号: 201410710687.8 申请日: 2014-11-28
公开(公告)号: CN104359510A 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 张宸铭;简月圆;熊正平;崔缀奎;张柯;夏云青;崔辛超 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及显示面板加工技术领域,特别涉及一种检测设备。

背景技术

在显示面板加工技术领域,对基板加工不良的检测是保证显示面板产品质量的一个重要环节。

对显示面板的基板进行检测时包括宏观检测和微观检测;其中,宏观检测用于对基板生产过程中基板上产生不良的区域进行确定,微观检测用于对宏观检测中检测到的不良区域中的不良进行微观检测。

但是,现有技术中采用的检测设备不能实现对基板在线进行宏观检测和微观检测,从而导致对基板的检测时间较长,同时,还影响了之后该产品生产的正常进行。

发明内容

本发明提供一种检测设备,该检测设备能够对显示面板生产过程中的基板进行在线宏观检测和微观检测,从而能够缩短对基板进行检测的时间,提高了该显示面板的生产效率。

为达到上述目的,本发明提供以下技术方案:

一种检测设备,包括入片区域、长边宏观检测区域、微观检测区域、转向区域、短边宏检测区域、取片区域、以及将待检测基板传送于各区域之间的基板传动装置;其中:

所述入片区域内设有对进入所述入片区域中的基板进行位置矫正、以使基板能够按照设定姿态进入所述长边宏观检测区域的第一调节装置;

所述长边宏观检测区域设有对进入所述长边宏观检测区域内基板的长边进行宏观检测的第一检测装置;

所述微观检测区域设有对进入微观检测区域的基板进行微观检测的第二检测装置;

所述转向区域内设有将进入所述转向区域内的基板进行转向对位、以使基板能够按设定方位进入短边宏观检测区域的第二调节装置;

所述短边宏观检测区域设有对进入短边宏观检测区域的基板的短边进行宏观检测的第三检测装置;

所述取片区域内设有对进入取片区域内的基板进行对位的对位装置。

上述检测设备中,入片区域与显示面板中基板的产线连接,入片区域设置的第一调节装置可以对产线传输到入片区域的基板的姿态进行位置矫正,从而使基板传送装置将基板按照设定的姿态传送至长边宏观检测区域内,并通过长边宏观检测区域中的第一检测装置对基板的长边进行宏观检测,当第一检测装置检测到基板上存在不良区域时,第一检测装置获得到基板上该不良的位置信息,然后基板传送装置将该基板传送至微观检测区域,微观检测区域内设有的第二检测装置对长边宏观检测区域内第一检测装置确定的不良位置的不良进行微观检测;然后,基板传送装置将基板传送至转向区域,转向区域内的第二调节装置对基板进行转向定位,进而使基板能够按设定方位进入短边宏观检测区域,基板进入到短边宏观检测区域中后,由短边宏观检测区域内的第三检测装置对基板的短边进行宏观检测,当第三检测装置检测到基板上存在不良区域时,获得短边上具有的不良区域的位置信息,然后基板传送装置将基板传送至微观检测区域,对基板短边上具有的不良区域进行微观检测,检测完成后,基板传动装置将基板传送至取片区域,然后取片区域具有的对位装置对取片区域内的基板进行对位,然后由机械手等检测完成后的基板自取片区域取走。

因此,上述检测设备能够对显示面板生产过程中的基板进行在线宏观检测和微观检测,从而能够缩短对基板进行检测的时间,提高了该显示面板的生产效率。

优选地,所述入片区域、长边宏观检测区域、微观检测区域、转向区域、短边检测区域、以及取片区域依次排列以形成生产线结构,所述基板传动装置包括两条并列设置的滑轨,每一条滑轨上设有可沿所述滑轨长度方向滑动的基板衔取装置。

优选地,每一个所述基板衔取装置包括:

一个与所述滑轨滑动配合的滑块,所述滑块设有真空吸孔;

为所述滑块设有的真空吸孔进行抽真空的抽真空装置;

驱动所述滑块沿所述滑轨移动的驱动装置。

优选地,所述基板传动装置还包括位于所述入片区域的第一传动滚轮、位于所述转向区域的第二传动滚轮、以及位于取片区域的第三传动滚轮。

优选地,所述第一调节装置包括:

可沿垂直于两个所述滑轨延伸方向所在平面升降、且可绕垂直于两个所述滑轨延伸方向所在平面的枢转轴旋转的转台;

限定所述基板边缘位置的边缘限定机构。

优选地,所述长边宏观检测区域内的第一检测装置包括:

基台,基台设有长度方向与滑轨延伸方向垂直的检测间隙;

沿所述检测间隙长度方向排列的多个宏观图像采集摄像机,各所述宏观图像采集摄像机的采集方向朝向所述检测间隙。

优选地,所述微观检测区域内的第二检测装置包括:

基台;

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