[发明专利]一种能够提高荧光分析生料对比合格率的工艺

说明书

技术领域

本发明涉及水泥加工技术领域，具体地，涉及一种能够提高荧光分析生料对比合格率的工艺。

背景技术

X射线荧光分析是一种快速测定各种材料化学组分的方法，此法因具有快速准确的特点已被广泛应用于水泥行业。目前我公司石灰石、砂页岩、生料、熟料、水泥等样品分析均采用此方法，因此，荧光检验的准确性，间接得影响到出厂水泥的质量，因此，荧光分析在整个水泥生产控制过程中显得尤其重要。

2012年，我们发现出磨生料的波动大，合格率低，针对这些情况，为了能更好得做好配料工作配合生产，需要提高生料对比合格率。荧光分析生料对比合格率为85.5％。

原因分析：针对影响生料对比合格率低的原因用关联图进行原因分析：

生料对比合格率低：光谱不稳，光谱漂移，光谱仪运转率低，室温不稳；生料吸水，水分过多；生料曲线线性差；助磨剂三乙醇胺对生料影响大；磨机，压片机故障多；样品称样误差大；光谱仪运转率低。室温不稳，见下表：

样品未按规定保存，见下表：

生料曲线线性差，见下表：

助磨剂三乙醇胺对生料影响大，见下表：

磨机，压片机故障多；生料样片灰大；助磨剂三乙醇胺对生料化学成分的影响大。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在故障率高、稳定性差和配比不合理等缺陷。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述问题，提出一种能够提高荧光分析生料对比合格率的工艺，以实现故障率低、稳定性好和配比合理的优点。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：一种能够提高荧光分析生料对比合格率的工艺，包括：

a、调整磨机；

b、调整光谱仪；

c、定期筛查滴定管，调整助磨剂的配方，调整后助磨剂中各组分按以下重量份数配比：

三乙醇胺：0.08份；

格雷斯SCJ809：0.12份。

进一步地，所述步骤a，具体包括：

定期调整电机功率；

对跑灰漏灰严重的磨机，在磨盘底部垫上橡胶或者更坏磨盘密封圈，将盘磨座底部焊死；

对于压片机，更换新磨具或按预设目标调整压片机压样的吨数。

进一步地，所述步骤b，具体包括：

定期清理完样片浮灰后再测样；

定期清理吸尘器，在吸尘器正常的情况下，定期检查生料样片钢圈周围以及样片表面是否有粉末，保证吸尘器的吸力。

本发明各实施例的能够提高荧光分析生料对比合格率的工艺，由于包括：a、调整磨机；b、调整光谱仪；c、定期筛查滴定管，调整助磨剂的配方，调整后助磨剂中各组分按以下重量份数配比：三乙醇胺：0.08份；格雷斯SCJ809：0.12份。红海HGA620：0.06份；从而可以克服现有技术中故障率高、稳定性差和配比不合理的缺陷，以实现故障率低、稳定性好和配比合理的优点。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为2012年1-6月份荧光分析生料对比合格率折线图；

图2-图6为各成分的曲线标样折线图；

图7为磨机压片机前后对比图；

图8为光谱仪运转率低要因验证效果图；

图9为整个生产过程生料对比合格率效果对比图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。

根据本发明实施例，如图1-图9所示，提供了一种能够提高荧光分析生料对比合格率的工艺，包括：

a、调整磨机；步骤a，具体包括：

定期调整电机功率；

对跑灰漏灰严重的磨机，在磨盘底部垫上橡胶或者更坏磨盘密封圈，将盘磨座底部焊死；

对于压片机，更换新磨具或按预设目标调整压片机压样的吨数；

b、调整光谱仪；步骤b，具体包括：

定期清理完样片浮灰后再测样；