[发明专利]眼科测量装置和眼科测量程序在审

专利信息
申请号: 201410717827.4 申请日: 2014-12-01
公开(公告)号: CN104665762A 公开(公告)日: 2015-06-03
发明(设计)人: 泷井通浩;河合规二 申请(专利权)人: 尼德克株式会社
主分类号: A61B3/107 分类号: A61B3/107;A61B3/10
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 鲁山;孙志湧
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 眼科 测量 装置 程序
【说明书】:

相关申请的交叉引用

本申请要求2013年11月29日提交的日本专利申请No.2013-248476的优先权,其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

本公开涉及测量被检眼睛的眼科测量装置、眼科测量方法和眼科测量程序。

背景技术

角膜后表面,例如,角膜后表面的曲率和形状可以测量为被检眼睛的眼科特性。例如,角膜后表面的曲率用于计算角膜屈光力,并且计算结果用于计算人工晶体度数。通常,通过分析使用诸如Scheimpflug摄像机和前房OCT装置的装置捕捉的角膜的截面图像,获取角膜后表面的特性。

在JP-A-2012-055337中公开了这种装置的例子。

在相关技术的上述例子中,要求角膜的截面图像。因此,要求用户装备捕捉角膜的截面图像的装置。

当使用Scheimpflug摄像机,在多个子午线方向中测量角膜时,应当旋转光学系统以便获得不同角度的截面图像,由此这种装置导致具有相当复杂的结构。由于前房OCT要求干涉光学系统和光学扫描仪,因此,前房OCT装置相当昂贵。

发明内容

鉴于上述环境,做出了本公开,以及本公开的一个目的是提供用于测量被检眼睛的角膜的眼科测量装置和方法,其能使用具有简单结构的装置,获取被检眼睛的角膜后表面的信息。

根据本公开的说明性实施例,提供了一种眼科测量装置,包括:投影光学系统,所述投影光学系统被配置成将图案视标投影到被检眼睛的角膜;设置有成像设备的成像光学系统,所述成像设备被配置成捕捉被检眼睛的图像,图像包括第二浦肯雅图像,第二浦肯雅图像是由于从被检眼睛的角膜后表面反射的图案视标形成的视标图像;连接到成像设备的处理器;以及存储计算机可读指令的存储器,当由处理器执行时,使处理器充当:检测单元,检测单元被配置成从由成像设备捕捉的图像检测第二浦肯雅图像;以及获取单元,获取单元被配置成基于由检测单元检测的第二浦肯雅图像,获取与被检眼睛的角膜后表面有关的角膜后表面信息。

根据本公开的另一说明性实施例,提供了一种用于测量被检眼睛的角膜的方法,该方法包括:将图案视标投影到被检眼睛的角膜;捕捉被检眼睛的图像,图像包括第二浦肯雅图像,第二浦肯雅图像是由于从被检眼睛的角膜后表面反射的图案视标形成的视标图像;从被检眼睛的图像检测第二浦肯雅图像;以及从被检眼睛的图像,基于从图像检测的第二浦肯雅图像,获取与被检眼睛的角膜后表面有关的角膜后表面信息。

根据本公开,具有简单结构的眼科测量装置能获取被检眼睛的角膜后表面的信息。

附图说明

在附图中:

图1是图示根据实施例的眼科测量装置的结构的示意图;

图2是由眼科测量装置捕捉的前房图像的示意图;

图3是图示相对于眼科测量装置的测量操作,CPU的处理的流程图;

图4是图示前房信息获取处理的流程图;

图5是描述计算角膜后表面的曲率半径的方法的示意图;以及

图6是根据修改例子的前房图像的示意图。

具体实施方式

在下文中,将参考附图,描述本公开的实施例。首先,将参考图1,描述根据实施例的眼科测量装置1的示意结构。

图1所示的眼科测量装置1测量被检眼睛E的角膜后表面。如图1所示,眼科测量装置1设置有角质投影光学系统10、成像光学系统(光接收光学系统)20和控制器100。该实施例的眼科测量装置1具有对准投影光学系统30、第二测量光学系统40和固定视标投影光学系统50。这些光学系统内置在附图中未示出的壳体中。非常公知的对准移动机构使得壳体相对于被检眼睛三维移动。例如,根据通过具有诸如操纵杆的用户接口的操作台,从检查者(用户)输入的指令,可以移动壳体。

角质投影光学系统10将图案视标(测量视标)投影(的光投影)在被检眼睛E的角膜上。在实施例中,来自角质投影光学系统10的视标被用来测量角膜的后表面(背面)。例如,可以测量角膜后表面的形状、曲率半径和屈光力等等。例如,还可以测量角膜厚度和角膜后表面的散光轴角。如稍后将描述的,图案视标可以用来测量角膜的前表面(正面)(例如,用来测量角膜前表面的形状、曲率半径、屈光力,以及角膜厚度和散光轴角)。

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