[发明专利]准直器及具有该准直器的探测装置和扫描设备

权利要求书

1.一种准直器，包括若干个准直孔，其特征在于：若干个所述准直孔的孔深不尽相同；

所述准直器用于对伽马射线进行准直并且还包括依次分布于所述准直器的若干个工作区，每一所述工作区沿其长度方向和宽度方向设有贯穿其上相对设置的上表面和下表面的若干个所述准直孔，任一所述工作区中至少有部分区域具有不同于与之相邻的另一所述工作区的厚度，使位于相邻两个所述工作区当中的至少二个所述准直孔具有不同的孔深，

其中，每个所述工作区内各处具有不尽相等的厚度，使得位于每个所述工作区内的若干个所述准直孔中至少有两个所述准直孔具有不同的孔深。

2.如权利要求1所述的准直器，其特征在于：其中一所述工作区末端的厚度等于与之邻接的另一所述工作区起端的厚度。

3.如权利要求1所述的准直器，其特征在于：其中一所述工作区末端的厚度不等于与之相邻的另一所述工作区起端的厚度。

4.如权利要求1所述的准直器，其特征在于：每一所述工作区由一准直层组成，或由若干准直层堆叠而成。

5.如权利要求1所述的准直器，其特征在于：所述准直器为一体结构。

6.一种探测装置，其包括检测装置，其特征在于：所述探测装置还包括权利要求1至5任一项所述的准直器，所述准直器用于对伽马射线进行准直，并且准直后的伽马射线将被施加到所述检测装置上。

7.如权利要求6所述的探测装置，其特征在于：所述准直器的位置相对所述检测装置是能够调整变动的。

8.一种扫描设备，其包括探测装置和机架，所述探测装置安装于所述机架，其特征在于：所述探测装置包括权利要求6或7所述的探测装置。