[发明专利]双晶小K值超声波探伤探头及探伤方法在审
申请号: | 201410721528.8 | 申请日: | 2014-12-03 |
公开(公告)号: | CN104458919A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 张啸;宋绍河 | 申请(专利权)人: | 北京中电龙源环保科技有限公司 |
主分类号: | G01N29/24 | 分类号: | G01N29/24;G01N29/04 |
代理公司: | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人: | 刘洪京 |
地址: | 102200 北京市昌平区科*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双晶 超声波 探伤 探头 方法 | ||
技术领域
本发明涉及管道无损探伤技术领域,尤其是一种双晶小K值超声波探伤探头及探伤方法。
背景技术
在热力发电厂和石油化工系统设备上,大量采用了小管径管道,就一台锅炉而言大约有几千条管道,其焊口竟达上万只。这些管道一般处在极其恶劣的环境中服役很容易损坏,由于焊接质量或设备非正常运行,常出现焊缝处泄露和爆破,一旦损坏将造成设备损坏和人员伤亡,因而对这些管道和连接焊缝在安装和服役期间必须进行检验,以确保设备和人员的安全。
此类管焊缝现在常规的探伤方法多采用X射线和超声波探伤检测。采用X射线方法检验,劳动强度大、费时、费力、耗材,且对人有较大的损害;在用超声波方法检验时,目前多采用小管径大K值超声波探头,即5MHz、K3探头。众所周知,超声波波束有近场长度。
横波声场近场区长度按下式计算:
N=
式N—近场长度
Nˊ—探头在钢中的近场长度
—波源面积
—介质Ⅱ中横波波长
—入射点至波源的距离
—入射点至假想波源的距离
已知:
压电晶片面积为5×5=25mm2
有机玻璃中纵波声速2710
钢中横波声速3230
压电晶片频率5MHz
横波探头K值为1.5 (按新设计探头计算)
﹦
将数字代入(1)(2)式得出Nˊ=7.035mm
由计算得到探头的近场长度为7.035mm,而我们预检的管壁厚度大都在3-8mm左右,在探头的近场区内,近场区内波幅多有副瓣,易形成杂波且不成线性关系,因而缺陷不能按探头的线性进行显示。
经多年应用确实发现了大量缺陷,但应用中发现这种探头制作合格率较低,往往会产生表面波和伤波前的杂波,表面波和杂波影响对伤波的判断,其检测率较低。由于探头压电晶片尺寸小则相对发射能量低,当利用二次波检上部缺陷时声能损失大,也造成了检测灵敏度降低。目前推广应用的小管径超声波探头实际并没有得到广泛应用。根据以上情况我们经多年潜心研究摸索出一种较为理想的探伤方法。
发明内容
本发明针对现有技术的不足,提出一种双晶小K值超声波探伤探头,结构巧妙,无杂波、波形单一、缺陷检出率高。
为了实现上述发明目的,本发明提供以下技术方案:一种双晶小K值超声波探头,包括壳体,该壳体内设有吸收胶、有机玻璃楔块、压电晶片和隔声层,该有机玻璃楔块和压电晶片均设有两个;该两个压电晶片的频率为2.5~5HMz,焦点为8~10mm,分别固定在两个有机玻璃楔块一端,两个有机玻璃楔块为交叉设置,隔声层设在两个有机玻璃楔块之间。
进一步地,两个有机玻璃楔块之间夹角为6~8o。
本发明还提供了一种双晶小K值超声波探伤方法,无表面波、无杂波出现,波幅单一、判伤准确、检测率高。
为了实现上述发明目的,本发明提供以下技术方案:一种双晶小K值超声波探伤方法,包括以下步骤:
⑴、建立探伤基准:将探头正对在试块上,该试块上设有已知孔径和深度尺寸的缺陷,移动探头进行探伤测试,得到探伤基准;或将探头正对与待检测管件相同尺寸的辅助管件,该辅助管件为无缺陷管件,其两端分别设有内壁槽和外壁槽,由内壁槽端开始移动探伤测试,内壁槽调出二次波,外壁槽调出三次波;
⑵、探伤:将探头对准待测管件焊缝,移动探头,获得缺陷的波形图;与步骤⑴探伤基准比对,确定缺陷的位置和尺寸。
进一步地,该试块上设有Φ1×6mm孔。
进一步地,探伤前还包括检测探头的灵敏度:将Φ1×6mm孔调整二次波、三次波的波幅80%高探测辅助管件得到的反射当量值。
进一步地,步骤⑵探伤中,判断缺陷方式为:二次底波和三次底波之间出现波可判定为缺陷;二次波后出现反射波,若波的最高点在三次波之前可判为缺陷波,若在三次波之后可判为焊瘤波。
与现有技术相比,本发明具有以下优点:采用小K值双晶探头检测小管径缺陷无表面波、无杂波出现,具有波幅单一、判伤准确、检测率高等优点。
附图说明
图1为本发明探头的结构原理图;
图2为试块的主视图;
图3为图2的俯视图;
图4为辅助管件的示意图。
具体实施方式
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