[发明专利]电性检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及电性检测，尤其是一种电性检测装置。

背景技术

随着电子产品发展日渐蓬勃，为确保电子产品出厂时的质量，制造、组装及出厂前，通常都会通过检测系统检测电子产品中各精密电子组件间的电性连接是否正确。

但现有的电性检测装置一次仅能对单一量测规格的产品进行检测，而无法适用于多种量测规格的检测。另外，现有的检测设备欲检测不同规格的产品时，必须重新以人工方式拆卸替换对应规格的探针组，不仅耗时且费力。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种电性检测装置，以适用于不同规格的待测部位的电性检测。

为了实现上述目的，本发明提供一种电性检测装置，用于对一待测物进行电性检测，所述装置包括：一机座、一承物台、一支架、至少一检测臂、至少一转盘、多个安置座以及多个探针组。其中，该机座具有相互平行的两个第一导轨；该承物台设置于该机座上，且用以放置该待测物：该支架设置于两个第一导轨上，且可沿两个第一导轨相对于该机座与该承物台移动，并具有一第二导轨；该检测臂设置于该第二导轨上，且位于该承物台上方，并可被该支架带动而与该支架同步移动，且可沿该第二导轨相对于该支架移动；转盘设置于检测臂上，且可相对于该检测臂转动或移动；安置座设置于转盘上，且可被该转盘带动而与该转盘同步转动，且可相对于该转盘转动或移动；探针组分别设置于安置座上，并可被该安置座带动而与该安置座同步移动，且用以与置放于该承物台上的待测物上的待测部位抵接以进行电性检测。

通过上述设计，便可使所述电性检测装置适用于不同规格的检测。

附图说明

图1是本发明一个较佳实施例的电性检测装置的立体图；

图2是本发明一个较佳实施例的电性检测装置检测臂位置处的结构立体图；

图3是本发明一个较佳实施例的探针组的立体图。

附图标记说明：

10、电性检测装置；11、机座；111、第一导轨；112、开口；113、升降装置；12、承物台；13、支架；131、第二导轨；14、检测臂；15、转盘；151、圆孔；16、传感器；17、被感测件；18、安置座；20、探针组；21、接地针；22、信号针；23、外壳；100、待测物。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明作进一步的详细说明。

如图1所示，本发明的一个较佳实施例的电性检测装置10用以对一待测物100进行电性检测，且该待测物上具有多个不同量测间距的待测部位(图中未示出)。该电性检测装置包含一机座11、一承物台12、一支架13、两个检测臂14、两个转盘15、四个传感器16、两个被感测件17、多个安置座18以及多个探针组20。其中：

该机座11上具有相互平行的两个第一导轨111，且该两个第一导轨111之间的中央或趋近中央处具有一开口112，且该开口112中具有一升降装置113。

该承物台12用以供该待测物100置放于其上，且设置于该机座11的升降装置113上，并可被该升降装置113带动而在该开口112处上升或下降。

该支架13略呈字型，且其底端分别设在该两个第一导轨111上，使该支架13可被驱动而沿该两个第一导轨111相对于该机座11与该承物台12移动。另外，该支架13的顶端具有一第二导轨131，且该第二导轨131提供的移动轨迹垂直于该两个第一导轨111提供的移动轨迹。

两个检测臂14设置于该第二导轨131上，而分别位于该支架13相反的两侧，并同时位于该承物台12上方。另外，两个检测臂14可同时被该支架13带动而与该支架13同步移动，且可分别沿该第二导轨111相对于该支架13移动。

参阅图2，各转盘15呈圆形，且该两个转盘15分别设置于两个检测臂14上，并可被分别驱动而相对于对应的各检测臂14转动或移动，且为了有效地达到轻量化和方便线材连接的目的，在不影响物理强度的条件下，各转盘14上等距地设有多个圆孔151。

传感器16分别位于两个检测臂14相反的两侧上。在本实施例中，各个传感器16为光遮断器，用以感测感测区中的光线使否被遮断。