[发明专利]电磁超声波测厚方法及装置

权利要求书

1.一种电磁超声波测厚方法，其特征在于，应用于电磁超声波测厚装置，所述方法包括：

所述电磁超声波测厚装置在一个时间点从待检测体的上底面向下底面猝发多个波；

获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第一反射脉冲簇B1，获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第二反射脉冲簇B2；所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中均包括多个峰值，所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中的每个所述峰值分别对应一个时间间隔，所述时间间隔为从所述时间点到获得每个所述峰值之间的时长；

计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔的比值属于预设阈值的两个时间间隔；

根据选取的所述时间间隔计算出所述待测检测体的厚度。

2.根据权利要求1所述的电磁超声波测厚方法，其特征在于，所述第一反射脉冲簇B1为从所述待检测体下底面第一次反射回波的脉冲簇，所述第二反射脉冲簇B2为从所述待检测体下底面第二次反射回波的脉冲簇，所述预设阈值为1:2；

所述计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔的比值属于预设阈值的两个时间间隔，包括：

计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔比值等于1:2的两个时间间隔。

3.根据权利要求1所述的电磁超声波测厚方法，其特征在于，所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2为所述电磁超声波测厚装置获得的从所述待检测体下底面反射回的相邻反射脉冲簇，所述预设阈值为1:2、2:3、3:4、4:5或5:6；

所述计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔比值属于预设阈值的两个时间间隔，包括：

计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔比值等于1:2、2:3、3:4、4:5或5:6的两个时间间隔。

4.根据权利要求1～3任意一项所述的电磁超声波测厚方法，其特征在于，所述计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，包括：

根据峰值的大小，按从大到小的顺序选取所述第一反射脉冲簇B1中前N个峰值，根据峰值的大小，按从大到小的顺序选取所述第二反射脉冲簇B2中前N个峰值，计算选取的所述第一反射脉冲簇B1中的任一峰值对应的时间间隔与选取的所述第二反射脉冲簇B2中的任一峰值对应的时间间隔的比值，其中，N为大于1的整数。

5.根据权利要求4所述的电磁超声波测厚方法，其特征在于，所述待测检测体的厚度H根据以下公式得出：H＝V(t_b2-t_b1)/2，其中，V为所述电磁超声波在所述待检测体中的传输速度，t_b2和t_b1为选取的两个时间间隔。

6.一种电磁超声波测厚装置，其特征在于，包括：

猝发单元，用于在一个时间点从待检测体的上底面向下底面猝发多个波；

获得单元，用于获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第一反射脉冲簇B1，获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第二反射脉冲簇B2；所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中均包括多个峰值，所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中的每个所述峰值分别对应一个时间间隔，所述时间间隔为从所述时间点到获得每个所述峰值之间的时长；

计算单元，用于计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值，选取所述时间间隔的比值属于预设阈值的两个时间间隔，根据选取的所述时间间隔计算出所述待测检测体的厚度。