[发明专利]PCB的背钻方法和钻机在审
申请号: | 201410727959.5 | 申请日: | 2014-12-03 |
公开(公告)号: | CN105643711A | 公开(公告)日: | 2016-06-08 |
发明(设计)人: | 陈显任;喻恩 | 申请(专利权)人: | 北大方正集团有限公司;珠海方正科技高密电子有限公司 |
主分类号: | B26F1/16 | 分类号: | B26F1/16;B26D7/28 |
代理公司: | 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 | 代理人: | 梁朝玉;尚志峰 |
地址: | 100871 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | pcb 方法 钻机 | ||
1.一种PCB的背钻方法,其特征在于,包括:
将所述PCB定位在钻机的机台上、并测量所述PCB的实际厚度H1;
根据所述PCB的实际厚度H1、理论厚度H2和理论钻孔控制深度H3,来 确定所述PCB的实际钻孔控制深度H;
根据确定的所述PCB的实际钻孔控制深度H,所述钻机控制钻头对所述 PCB进行钻孔。
2.根据权利要求1所述的PCB的背钻方法,其特征在于,
所述PCB的实际钻孔控制深度H根据公式H=H3+H1-H2得出。
3.根据权利要求1所述的所述的PCB的背钻方法,其特征在于,
所述PCB的实际钻孔控制深度H根据公式H=H3*H1/H2得出。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的PCB的背钻方法,其特征在于,
测得的所述PCB的实际厚度H1为所述PCB上待钻孔位置处的厚度。
5.根据权利要求4所述的PCB的背钻方法,其特征在于,
采用激光测量模组测量所述PCB的实际厚度H1。
6.根据权利要求5所述的PCB的背钻方法,其特征在于,
所述激光测量模组固定在所述钻机的钻头上,且所述激光测量模组的发射 端朝向所述PCB。
7.根据权利要求6所述的PCB的背钻方法,其特征在于,
所述PCB通过蘑菇头固定在所述机台的上台面上,且所述激光测量模组 的发射端发射的光线垂直于所述机台的上台面。
8.一种钻机,其特征在于,包括:
机台,PCB定位在所述机台上;
钻头,设置在所述机台和所述PCB的上方,用于对所述PCB进行钻孔; 和
测量模组,设置在所述机台和所述PCB的上方,用于测量所述PCB的厚 度;
其中,所述钻机采用如权利要求1至7中任一项所述的PCB的背钻方法 来对所述PCB进行钻孔。
9.根据权利要求8所述的钻机,其特征在于,还包括:
垫板,固定在所述机台的上台面上,所述PCB定位在所述垫板的上板面 上;
金属盖板,设置在所述PCB的上板面上;和
蘑菇头,固定在所述机台的上台面上,且其上端压紧所述金属盖板的上板 面;
其中,所述金属盖板、所述蘑菇头、所述钻头和所述测量模组电连接。
10.根据权利要求9所述的钻机,其特征在于,
所述测量模组为激光测量模组。
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