[发明专利]圆柱体类零件镀层同心度检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及圆柱体类零件镀层同心度检测方法。

背景技术

在电镀中，由于电力线的分布均匀性等原因，在镀后磨削中，由于装夹定位不准，电镀后或磨削后，容易造成镀层厚度不均匀，导致镀层形位产生偏差；由于现有检测设备如同心度检测仪、三坐标检测仪等检测时是以圆柱体类零件基体的轴心为测量基准，所以当圆柱体类零件基体的形位偏差和镀层形位偏差相互干涉，相互抵消或部分抵消时，现有检测设备无法检测出镀层的形位偏差。

发明内容

为解决现有技术存在的现有检测设备无法检测出镀层的形位偏差问题，本发明提供了圆柱体类零件镀层同心度检测方法。

本发明的圆柱体类零件镀层同心度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

1）按被测圆柱体类零件基体的磁性和导电特性，选择磁性测厚仪或涡流测厚仪；

2）选择与被测圆柱体类零件基体同状态的试件，对选择的磁性测厚仪或涡流测厚仪进行校准；

3）在被测圆柱体类零件的同一截面同一直径上的两点作为一组，用经校准的磁性测厚仪或涡流测厚仪测量所述的一组中两点处的镀层厚度，间隔测量至少4组；

4）计算每一组的最小厚度值与最大厚度值的比值，所述的比值即反映被测圆柱体类零件镀层的同心度偏差。

步骤3）中所述的间隔测量是间隔不大于45度测量。

本发明相比于现有技术具有如下积极效果，本发明的圆柱体类零件镀层同心度检测方法，由于用经校准的磁性测厚仪或涡流测厚仪单独测量出了圆柱体类零件的镀层厚度，所以避免了圆柱体类零件基体的形位偏差和镀层形位偏差相互干涉，因此可以消除基体的形位偏差对镀层的测量影响；又由于在圆柱体类零件同一截面同一直径上的两点处的镀层厚度，作为一组数据，间隔测量得出多组比值，所述的比值即反映被测圆柱体类零件镀层的同心度偏差。

附图说明

下面结合附图对本发明的具体实施例作进一步详细的说明。

图1是本发明的圆柱体类零件镀层同心度检测方法的圆柱体类零件的截面示意图。

图中：1.被测圆柱体类零件基体，2.镀层。

具体实施方式

图1示出了本发明的圆柱体类零件镀层同心度检测方法的圆柱体类零件的截面，当被测圆柱体类零件基体1的形位偏差和镀层2的形位偏差相互干涉，相互抵消或部分抵消时，现有检测设备如同心度检测仪、三坐标检测仪等无法检测出镀层2的同心度偏差。

本发明的圆柱体类零件镀层同心度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

1）按被测圆柱体类零件基体的磁性和导电特性，选择磁性测厚仪或涡流测厚仪；

2）选择与被测圆柱体类零件基体同状态的试件，对选择的磁性测厚仪或涡流测厚仪进行校准；

3）在被测圆柱体类零件的同一截面同一直径上的两点作为一组，用经校准的磁性测厚仪或涡流测厚仪测量所述的一组中两点处的镀层厚度，间隔测量至少4组；

在一个实施例中，可将被测圆柱体类零件直立放置在平台表面上，用与被测圆柱体类零件轴线平行的且以平台表面为基面的直尺靠在被测圆柱体类零件表面；转动被测圆柱体类零件，在直尺的某一刻度值位置相对应的同一截面同一直径上的两点作为一组，用经校准的磁性测厚仪或涡流测厚仪测量两点的镀层厚度，间隔不大于45度测量至少4组。

在另一个实施例中，可将被测圆柱体类零件装夹在分度头上，用经校准的磁性测厚仪或涡流测厚仪，在被测圆柱体类零件的同一截面同一直径上的两点处分别测量镀层厚度，作为一组数据，间隔不大于45度测量至少4组。

4）计算每一组的最小厚度值与最大厚度值的比值，所述的比值即反映被测圆柱体类零件镀层的同心度偏差。