[发明专利]基于TEDS传感器和矩阵开关技术的智能测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种基于TEDS传感器和矩阵开关技术的智能测试系统，包括调理模块组、矩阵开关模块、数据采集模块、控制模块，其特征在于：所述调理模块组与外部TEDS传感器之间设有信号调理自动配置矩阵开关模块，所述信号调理自动配置矩阵开关模块设置有与外部TEDS传感器数量相同的列通道，以及与调理模块组中的调理模块数量相同的行通道，每一列通道的信号输入端对应连接唯一的TEDS传感器的测试信号输出端，每一行通道信号输出端连接唯一对应的调理模块组中的调理模块的信号输入端；

调理模块组与数据采集模块之间设有信号采集自动配置矩阵开关模块，所述信号采集自动配置矩阵开关模块设置有与调理模块组中的调理模块数量相同的行通道，以及与数据采集模块通道数量相同的列通道，每一行通道的信号输入端对应连接唯一的调理模块组中各个调理模块的信号输出端，每一列通道的信号输出端通过数据采集模块连接控制模块；

所述控制模块控制连接信号调理自动配置矩阵开关模块、信号采集自动配置矩阵开关模块，同时还通过TEDS矩阵开关自动配置模块连接外部TEDS传感器的TEDS信息管脚。

2.根据权利要求1所述的基于TEDS传感器和矩阵开关技术的智能测试系统，其特征在于：所述TEDS矩阵开关自动配置模块设置有与外部TEDS传感器数量相同的开关通道，通过每一开关通道将对应的TEDS传感器分别与控制模块相连接。

3.一种基于TEDS传感器的智能测试系统的测试方法，其特征在于：利用权利要求1或2的测试系统完成信号测试，所述测试方法包括以下步骤：

（一）读取TEDS信息：通过上位机的TEDS信息读写程序，即控制模块控制TEDS矩阵开关自动配置模块的公共通道依次与复用开关通道接通，控制模块依次读取连接在TEDS矩阵开关自动配置模块的复用开关通道上的传感器的TEDS信息；

（二）调理模块组自动配置：控制模块利用读取的TEDS信息解析TEDS传感器的调理信息，并根据调理信息通过切换信号调理自动配置矩阵开关模块通道，将TEDS传感器检测的信号连接到相应的调理模块组中对应的调理模块进行调理；

（三）采集通道的自动切换：调理后的信号在控制模块的控制下通过信号采集自动配置矩阵开关模块的相应通道，数据采集模块通过信号采集自动配置矩阵开关模块采集相应的信息，并完成信号的模数转换；

（四）数据的非线性校正：控制模块通过读取的TEDS信息，解析在TEDS信息中传感器的校正信息，然后将校正信息带入到相应的校正模型中，对TEDS传感器测取的信号进行非线性校正，得到更为精确的测量值；

（五）数据解析：控制模块通过读取的TEDS信息，解析存储在TEDS信息中传感器的灵敏度、零点漂移等信息，对非线性校正中的动态性能校正后的数字信号进行运算，最终将TEDS传感器输出的测量值标定到合理的工程单位。

4.根据权利要求3所述的基于TEDS传感器和矩阵开关技术的智能测试系统的测试方法，其特征在于：所述步骤（五）之后还有步骤（六）信息后处理：控制模块将校正后的数据进行分析、处理，并将结果进行显示，同时存储。

5.根据权利要求3或4所述的基于TEDS传感器和矩阵开关技术的智能测试系统的测试方法，其特征在于：所述步骤（一）中读取到的TEDS传感器的TEDS信息包括基本TEDS信息和标准TEDS信息，所述基本TEDS信息包括TEDS传感器的制造商、型号、序列号等识别参数；标准TEDS信息包括识别参数、设备参数、标定参数，以及应用参数。

6.根据权利要求3或4所述的基于TEDS传感器和矩阵开关技术的智能测试系统，其特征在于：所述步骤（四）中对数据的非线性校正包括传感器静态性能的校正与传感器动态性能的校正。

7.根据权利要求5所述的基于TEDS传感器和矩阵开关技术的智能测试系统，其特征在于：所述步骤（四）中对数据的非线性校正包括传感器静态性能的校正与传感器动态性能的校正。