[发明专利]一种激光自混频纳米颗粒粒径分布快速测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及纳米颗粒粒径分布测量领域，具体涉及一种无需外置光学器件的激光自混频纳米颗粒粒径分布的快速测量方法及装置。

背景技术

近年来，激光自混频技术在纳米颗粒粒径测量领域备受关注，归咎于如下优点：

1、采用后向散射信号可有效避免大颗粒的影响、复散射效应等。

2、采用自混频信号放大技术，极大降低了对探测器灵敏度的要求、避免杂散光影响和激光本身频率漂移的影响。

3、测量装置无需复杂光路实现光的时间和空间相干条件、无需相关器和光电倍增管提高探测灵敏度，相对传统测量装置结构简单，可望应用于在线实时测量场合。

迄今为止，激光自混频测量方法及装置仍需借助若干个光学器件将激光传输至样品池中纳米颗粒上。激光自混频对外界光反馈非常敏感，反馈光一方面来自于纳米颗粒微弱的后向散射光，另一方面来自光学器件界面的反射。为了尽可能减小后者的干扰，对光学器件本身以及彼此的耦合需提出更高的要求，另外，光学器件易被污染、易被损坏、高质量光学器件本身的高成本。以上诸多问题限制了颗粒粒径测量领域内激光自混频技术的广泛应用。

发明内容

本发明目的之一在于建立一个无需外置光学器件的激光自混频纳米颗粒粒径的快速测量装置及方法，本发明极大地简化了测量装置，操作简单、测量快速、精确。

本发明提供一种激光自混频纳米颗粒粒径分布快速测量方法，方法步骤如下：

S1：将激光二极管发出的发散光束直接照射到样品池溶液中的纳米颗粒，获得自混频信号；

S2：将所述自混频信号转变，获得由M个不同频率处的功率组成的功率谱；

S3：将所述功率谱处理得到所述纳米颗粒粒径分布列向量X。

步骤S1具体包括：所述纳米颗粒被所述发散光束照射后产生后向散射光，所述后向散射光返回进入所述激光二极管的激光谐振腔内，与所述激光谐振腔内的原始光发生自混频并产生自混频信号，所述自混频信号包含所述纳米颗粒粒径的信息。

步骤S2具体包括：

所述自混频信号从激光腔后端面射出，经光电检测器转变为电流信号；

所述电流信号经跨阻放大电路转变为电压信号，然后并行送入多通道真有效值转换电路，并得到M个不同频率处的信号真有效值；

所述信号真有效值被A/D采集卡采样送入计算机中，获得M个不同频率处的功率，所述功率组成功率谱，可表示为：

其中，i是频率通道号(i＝1,2,…,M)，M是通道总数；j是颗粒粒径分档号(j＝1,2,…,N)，N是颗粒粒径分档总数；x_j是第j档颗粒粒径平均值；△x_j是第j档粒径的分档宽度；q是散射矢量的值；D_j是第j档粒径的颗粒扩散系数，包含了纳米颗粒粒径x_j的信息；积分变量ω是与布朗运动有关的角频率；H_i(ω_0,i,ω)是第i通道带通滤波器的频率响应函数，该通道带通滤波器的中心频率为ω_0,i，适用于各阶无源和有源滤波器；ρ(x_j)是第j档粒径的颗粒分布函数。

步骤S3具体包括：

首先将所述公式(1)转变成矩阵，得到：

S∝KX