[发明专利]准直器及具有该准直器的探测装置和扫描设备

权利要求书

1.一种准直器，包括堆叠设置的第一准直层和第二准直层，所述第一准直层和所述第二准直层均设有若干准直孔，其特征在于：其中所述第一准直层上的若干所述准直孔具有不尽相同的孔深，且所述第一准直层和所述第二准直层可相对运动以改变所述第一准直层和所述第二准直层上的若干所述准直孔堆叠后的有效孔深和/或有效孔径使所述准直器的堆叠区的准直性能改变。

2.如权利要求1所述的准直器，其特征在于：所述第二准直层上的若干所述准直孔也具有不尽相同的孔深，且所述第一准直层和所述第二准直层均具有一对接表面，若干所述准直孔或若干所述准直孔的延伸方向贯穿对应的所述对接表面，二所述对接表面相向设置且能够相互吻合。

3.如权利要求2所述的准直器，其特征在于：所述第一准直层和所述第二准直层的所述对接表面均为一平直表面，且所述平直表面相互平行。

4.如权利要求3所述的准直器，其特征在于：所述平直表面与堆叠方向呈锐角或钝角夹角。

5.如权利要求2所述的准直器，其特征在于：所述第一准直层的所述对接表面包括若干第一阶梯表面，相邻两所述第一阶梯表面之间具有跃变的高度差，所述第二准直层的所述对接表面包括若干第二阶梯表面，相邻两所述第二阶梯表面之间具有跃变的高度差，每一所述第一阶梯表面均平行于每一所述第二阶梯表面，若干所述第一阶梯表面可相对若干所述第二阶梯表面运动并与相应数目的若干所述第二阶梯表面堆叠。

6.如权利要求2所述的准直器，其特征在于：所述第一准直层的所述对接表面包括若干第一阶梯表面，相邻两所述第一阶梯表面之间具有跃变的高度差，所述第二准直层的所述对接表面为平行于若干所述第一阶梯表面的一平直表面，且该平直表面可相对若干所述第一阶梯表面运动并与其中任一所述第一阶梯表面堆叠。

7.利要求5或6所述的准直器，其特征在于：每一所述第一阶梯表面或者与堆叠方向呈锐角或钝角夹角，或者垂直于所述堆叠方向。

8.如权利要求2所述的准直器，其特征在于：所述第一准直层的所述对接表面包括若干第一弧形表面，一所述第一弧形表面的末端与与之相邻的另一所述第一弧形表面的起端重合，所述第二准直层的所述对接表面包括与若干所述第一弧形表面吻合的若干第二弧形表面，一所述第二弧形表面的末端与与之相邻的另一所述第二弧形表面的起端重合，若干所述第一弧形表面可相对若干所述第二弧形表面运动并与相应数目的若干所述第二弧形表面堆叠。

9.如权利要求2所述的准直器，其特征在于：所述第一准直层的所述对接表面包括若干第一弧形表面，一所述第一弧形表面和与之相邻的另一所述第一弧形表面之间具有跃变的高度差，所述第二准直层的所述对接表面包括与若干所述第一弧形表面吻合的若干第二弧形表面，一所述第二弧形表面和与之相邻的另一所述第二弧形表面之间具有跃变的高度差，若干所述第一弧形表面可相对若干所述第二弧形表面运动并与相应数目的若干所述第二弧形表面堆叠。

10.如权利要求2所述的准直器，其特征在于：所述第一准直层和所述第二准直层还分别具有与对应的所述对接表面相对设置的一自由表面，所述自由表面相互平行,使所述准直器的堆叠区中的局部区域或全部区域上的若干所述准直孔堆叠后的有效孔深相等。

11.如权利要求10所述的准直器，其特征在于：所述第一准直层和所述第二准直层的所述自由表面均为一平直表面，且所述平直表面相互平行。

12.如权利要求11所述的准直器，其特征在于：所述平直表面垂直于堆叠方向。

13.一种探测装置，其包括检测装置，其特征在于：所述探测装置还包括权利要求1至12任一项所述的准直器，所述准直器用于对射线进行准直，并且准直后的射线将被施加到所述检测装置上。

14.一种扫描设备，其包括探测装置和机架，所述探测装置安装于所述机架，其特征在于：所述探测装置包括权利要求1至12任一项所述的准直器，所述准直器用于对射线进行准直。