[发明专利]一种锁相环锁定状态检测电路有效

专利信息
申请号: 201410741116.0 申请日: 2014-12-05
公开(公告)号: CN104485946A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 李海松;高利军;尹飞;赵德益;岳红菊;包谦;周凤;唐威;吴龙胜 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
主分类号: H03L7/085 分类号: H03L7/085
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710000 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 锁相环 锁定 状态 检测 电路
【权利要求书】:

1.一种锁相环锁定状态检测电路,其特征在于,包括依次连接的滤波电路(821)、自复位采样电路(822)、比较电路(823)和状态锁定电路(824);

所述滤波电路(821)用于对输入脉冲信号(FUP)进行低通滤波获得输出信号(spf);

所述自复位采样电路(822)的输入端分别接入复位信号(RESET)、分频器(815)的输出频率(FFB)和滤波电路(821)的输出信号(spf),第一输出端(A1~An)和第二输出端(B1~Bn)分别与比较电路(823)的输入端相连;

所述比较电路(823)的输入端还接入复位信号(RESET)和输入参考时钟(FREF),输出端输出信号(slock),并与状态锁定电路(824)的输入端相连;

所述状态锁定电路(824)的输入端还接入复位信号(RESET),输出端输出可变锁定信号(LOCK1)和恒定锁定信号(LOCK2);当锁相环锁定时可变锁定信号(LOCK1)跳变为高电平,当锁相环失锁时可变锁定信号(LOCK1)跳变为低电平;在锁相环第一次锁定后恒定锁定信号(LOCK2)保持为高电平,直到锁相环再次复位或重新上电。

2.根据权利要求1所述的一种锁相环锁定状态检测电路,其特征在于,所述的自复位采样电路(822)包括两个PMOS晶体管,2n+2个触发器,两个反相器,一个二输入与非门,以及一个二输入或非门;

复位信号(RESET)与第一二输入与非门(nand1)的第二输入端(b)相连;分频器(815)输出频率(FFB)分别与n+1个依次级联的A端触发器(DFFA1,DFFA2,……,DFFAn+1)的时钟输入端(CK)相连;滤波电路(821)输出信号(spf)与第一反相器(inv1)的输入端相连;第一反相器(inv1)的输出端分别与n+1个依次级联的B端触发器(DFFB1,DFFB2,……,DFFBn+1)的时钟输入端(CK)相连;

第一PMOS晶体管(mos1)的源端接电源电压(vdd),栅端与漏端短接并与首级A端触发器(DFFA1)的数据输入端(D)相连,非末级A端触发器(DFFA1,……,DFFAn)的数据输出端(Q)分别与后一级触发器的数据输入端(D)相连,末级A端触发器(DFFAn+1)的数据输出端(Q)与二输入或非门(nor1)的第一输入端(a)相连;

第二PMOS晶体管(mos2)的源端接电源电压(vdd),栅端与漏端短接并与首级B端触发器(DFFB1)的数据输入端(D)相连,非末级B端触发器(DFFB1,……,DFFBn)的数据输出端(Q)分别与后一级触发器的数据输入端(D)相连,末级B端触发器(DFFBn+1)的数据输出端(Q)与二输入或非门(nor1)的第二输入端(b)相连;

二输入或非门的输出端(y)与二输入与非门的第一输入端(a)相连,二输入与非门的输出端与第二反相器(inv2)的输入端相连;第二反相器(inv2)的输出端与触发器的复位信号端(RN)相连;自复位采样电路(822)中各非末级触发器的输出端输出的第一输出信号(a1~an)和第二输出信号(b1~bn)分别与比较电路(823)的输入端相连。

3.根据权利要求2所述的一种锁相环锁定状态检测电路,其特征在于,所述的比较电路(823)包括一个反相器,n个二输入异或门,一个等效n输入与非门,以及一个触发器;

复位信号(RESET)与比较触发器(DFF1)的置位信号端(SN)相连;输入参考时钟(FREF)与第三反相器(inv3)的输入端相连,第三反相器(inv3)的输出端与比较触发器(DFF1)的时钟输入端(CK)相连;

第一输出端(A1~An)和第二输出端(B1~Bn)分别对应的接入到二输入异或门(xor1~xorn)的第一输入端和第二输入端,输出端分别与等效n输入与非门的输入端(c1~cn)对应相连,等效n输入与非门的输出端与对比触发器(DFF1)的数据输入端(D)相连,对比触发器(DFF)的数据输出端(Q)作为比较电路(823)的输出端,并输出信号(slock);比较电路(823)的输出端(Slock)与状态锁定电路(824)的输入端相连。

4.根据权利要求1或3所述的一种锁相环锁定状态检测电路,其特征在于,所述的状态锁定电路(824)包括一个PMOS晶体管,两个反相器,以及三个二输入与非门;

复位信号RESET与第三二输入与非门nand3的第一输入端(a)相连,比较电路(823)的输出端(Slock)与第二二输入分别与非门nand2的第一输入端(a)和第四反相器inv4的输入端相连;第四反相器inv4的输出端输出可变锁定信号LOCK1;

第三PMOS晶体管(mos3)的源端与电源电压(vdd0相连,栅端与漏端短接并与第四二输入与非门(nand4)的第二输入端(b)相连;第四二输入与非门(nand4)的输出端与第二二输入与非门(nand2)的第二输入端(b)相连,第二二输入与非门(nand2)的输出端与第三二输入与非门(nand3)的第二输入端(b)相连;第三二输入与非门(nand3)的输出端与第五反相器(inv5)的输入端相连,第五反相器(inv5)的输出端与第四二输入与非门(nand4)的第一输入端(a)相连,同时第五反相器(inv5)的输出端作为状态锁定电路(824)的输出端,输出恒定锁定信号(LOCK2)。

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