[发明专利]一种集成分光探测的衰减器在审

专利信息
申请号: 201410756213.7 申请日: 2014-12-10
公开(公告)号: CN104570217A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 周日凯;张川;魏德亮;赵慧;王新;张颖;白航 申请(专利权)人: 武汉光迅科技股份有限公司
主分类号: G02B6/26 分类号: G02B6/26;G02B6/42;G01J1/42
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 杜文茹
地址: 430205 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成 分光 探测 衰减器
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种衰减器。特别是涉及一种将衰减器和分光探测器集成为一体的集成分光探测的衰减器。

背景技术

现有的在衰减器的输入端和(或)输出端进行分光探测,具有两种方案。一种是衰减器+耦合器分光+探测器方案,如图9、图10、图11所示。此方案是在衰减器的输入端和(或)输出端接一个1x2的耦合器(比如5:95分光的耦合器),分出一小部分(比如5:95的分光耦合器分出5%的光)光从耦合器的一端输出,然后再接一个探测器,对分出来的这一小部分光进行探测。还有一种是衰减器+抽头分光探测器(Tap PD)方案,如图12、图13、图14所示。此方案是在衰减器的输入端和(或)输出端接一个抽头分光探测器(Tap PD),抽头分光探测器的原理如图15所示,它是利用分光片(或在透镜上镀分光膜)分出一部分光到探测芯片上,探测芯片对这部分光进行探测。

上述这两种方案封装尺寸都比较大,限制了衰减器的应用范围。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是,提供一种体积小,把衰减器和分光探测器集成到一起的集成分光探测的衰减器

本发明所采用的技术方案是:一种集成分光探测的衰减器,包括有分别设置在两侧的第一单芯光纤头和第二单芯光纤头,在所述的第一单芯光纤头和第二单芯光纤头之间的光路上设置有微光机电系统芯片,所述的第一单芯光纤头的出射光端至微光机电系统芯片的入射光端之间的光路上还依次设置有第一准直透镜和第一分光片,所述微光机电系统芯片的出射光端至第二单芯光纤头的入射光端之间的光路上设置有第四会聚透镜,所述第一分光片反射光的光路上设置有用于将光信号转换成电信号输出的第一探测芯片。

在所述的微光机电系统芯片的入射光端还设置有第二会聚透镜,在所述的微光机电系统芯片的出射光端还设置有第二准直透镜。

在所述的第一分光片和用于将光信号转换成电信号输出的第一探测芯片之间的光路上还设置有第一会聚透镜或球透镜。

所述的第四会聚透镜的入射光的光路上还设置有第二分光片,所述第二分光片的反射光路上设置有用于将光信号转换成电信号输出的第二探测芯片。

在所述的第二分光片和用于将光信号转换成电信号输出的第二探测芯片之间的光路上还设置有第三会聚透镜或球透镜。

在第一准直透镜的出射光端还设置有第一反射镜,在第四会聚透镜的入射光端还设置有第二反射镜。

一种集成分光探测的衰减器,包括有分别设置在两侧的第一单芯光纤头和第二单芯光纤 头,在所述的第一单芯光纤头和第二单芯光纤头之间的光路上设置有微光机电系统芯片,所述的第一单芯光纤头出射光端至所述的微光机电系统芯片入射光端之间的光路上设置有第一准直透镜,所述微光机电系统芯片的出射光端至第二单芯光纤头之间的光路上设置有第二分光片和第四会聚透镜,所述第二分光片的反射光路上设置有用于将光信号转换成电信号输出的第二探测芯片。

所述的微光机电系统芯片的入射光端还设置有第二会聚透镜,所述的微光机电系统芯片的出射光端还设置有第二准直透镜。

在所述的第二分光片和用于将光信号转换成电信号输出的第二探测芯片之间的光路上还设置有第三会聚透镜或球透镜。

在所述的第一准直透镜的出射光端的光路上还设置有第一分光片,在所述第一分光片反射光的光路上设置有用于将光信号转换成电信号输出的第一探测芯片。

在所述的第一分光片和用于将光信号转换成电信号输出的第一探测芯片之间的光路上还设置有第一会聚透镜或球透镜。

在第一准直透镜的出射光端还设置有第一反射镜,在第四会聚透镜的入射光端还设置有第二反射镜。

本发明的一种集成分光探测的衰减器,将衰减器和分光探测器集成为一体,降低了尺寸,结构简单,体积小,便于携带,使用方便,满足了客户小尺寸的需求。

附图说明

图1是本发明集成分光探测的衰减器第一实施例的结构示意图;

图2是本发明集成分光探测的衰减器第二实施例的结构示意图;

图3是本发明集成分光探测的衰减器第三实施例的结构示意图;

图4是本发明集成分光探测的衰减器第四实施例的结构示意图;

图5是本发明集成分光探测的衰减器第五实施例的结构示意图;

图6是本发明集成分光探测的衰减器第六实施例的结构示意图;

图7是本发明集成分光探测的衰减器第八实施例的结构示意图;

图8是本发明集成分光探测的衰减器第九实施例的结构示意图;

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