[发明专利]复合绝缘子用硅橡胶的高低温循环老化试验及评价方法在审
申请号: | 201410765459.0 | 申请日: | 2014-12-11 |
公开(公告)号: | CN104458552A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 魏杰;高海峰;周军;周益扬 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;中国电力科学研究院 |
主分类号: | G01N17/00 | 分类号: | G01N17/00 |
代理公司: | 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐国文 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 复合 绝缘子 硅橡胶 低温 循环 老化试验 评价 方法 | ||
1.复合绝缘子用硅橡胶的高低温循环老化试验及评价方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤:
步骤1:硅橡胶的高低温循环老化试验;
步骤2:采用TSC测试方法对硅橡胶的高低温循环老化进行评价。
2.根据权利要求1所述的复合绝缘子用硅橡胶的高低温循环老化试验及评价方法,其特征在于:所述步骤1具体包括以下步骤:
步骤1-1:选择高温鼓风烘箱用于给试样提供95℃-105℃的高温条件,并选择低温储藏柜给试样提供-50℃-30℃的低温条件;
步骤1-2:将试样高温条件下放置一天,取出后换至低温条件下放置一天,以此循环;每过一个循环后,取出多个试样进行TSC测量。
3.根据权利要求1所述的复合绝缘子用硅橡胶的高低温循环老化试验及评价方法,其特征在于:所述步骤2具体包括以下步骤:
步骤2-1:将经过高低温循环老化试验的试样制作成直径为25mm,厚度为0.7mm的圆片;
步骤2-2:将圆片放入TSC设备中,以2K/min的升温速率升温至极化温度,在极化温度下施加直流极化电压,保持该直流极化电压使原片极化,到达极化时间后,将圆片以15K/min的降温速率降温至极低温度后,移除直流极化电压,将样本上下表面短路2min;
步骤2-3:采用2K/min的升温速率将圆片升温至120℃,同时将圆片接到静电计回路,测量圆片两端的短路电流,该短路电流与温度的关系曲线即为圆片的TSC曲线;
步骤2-4:对TSC曲线进行处理分析,确定陷阱参数。
4.根据权利要求3所述的复合绝缘子用硅橡胶的高低温循环老化试验及评价方法,其特征在于:极化温度为65℃,极化时间为30min,极低温度为-80℃,极化电场为300V/mm。
5.根据权利要求3所述的复合绝缘子用硅橡胶的高低温循环老化试验及评价方法,其特征在于:所述步骤2-4中,陷阱参数包括陷阱电荷量QTSC和陷阱能级E,分别表示为:
其中,β为升温速率,T0为极低温度,T1为极化温度,Tm为峰值电流对应的温度,ΔT为半峰值对应的温度差,k为波尔兹曼常数。
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