[发明专利]基于测量顶角和入射角的红外玻璃折射率光电检测系统

权利要求书

1.基于测量顶角和入射角的红外玻璃折射率光电检测系统，包括被测棱镜(6)，其特征在于：在光学平台分别设置光源氙灯(1)、单色仪(2)、分光棱镜(3)、离轴抛物面反射镜(4)、斩波器(5)、单层高精一维转台(7)、探测器Ⅰ(8)、探测器Ⅱ(9)、探测器Ⅲ(10)和探测器Ⅳ(11)；所述的单层高精一维转台(7)顶部放置被测棱镜(6)，单层高精一维转台(7)为单层一维转台，为测量棱镜顶角及棱镜最小偏向角提供读数，单层高精一维转台(7)与探测器Ⅱ(9)、探测器Ⅲ(10)组合测量棱镜顶角，单层高精一维转台(7)与探测器Ⅰ(8)组合测量棱镜最小偏向角；所述的探测器Ⅱ(9)、探测器Ⅲ(10)位于单层高精一维转台(7)两侧，探测器Ⅱ(9)、探测器Ⅲ(10)成120°角放置；所述的斩波器(5)作为信号调制和空间滤波器，将直流光信号调制为交变信号；所述的探测器Ⅳ(11)正对分光棱镜(3)；所述的单色仪(2)入射狭缝正对光源氙灯(1)，单色仪(2)出射狭缝正对分光棱镜(3)；所述的光源氙灯(1)、单色仪(2)与离轴抛物面反射镜(4)构成模拟无穷远目标的平行光。

2.根据权利要求1所述的基于测量顶角和入射角的红外玻璃折射率光电检测系统，其特征在于：所述的光学平台安装有减振隔层。

3.根据权利要求1所述的基于测量顶角和入射角的红外玻璃折射率光电检测系统，其特征在于：所述的单色仪(2)包括入射狭缝、出射狭缝、离轴抛物镜SR1、离轴抛物镜SR2、反射镜。

4.根据权利要求1所述的基于测量顶角和入射角的红外玻璃折射率光电检测系统，其特征在于：所述的斩波器(5)利用锁相放大技术实现弱信号的检测。

5.根据权利要求1所述的基于测量顶角和入射角的红外玻璃折射率光电检测系统，其特征在于：所述的单层高精一维转台(7)带动被测棱镜(6)旋转，改变被测棱镜(6)的角度，寻找测量顶角时所需位置和最小偏向角位置。

6.根据权利要求1所述的基于测量顶角和入射角的红外玻璃折射率光电检测系统，其特征在于：所述的探测器Ⅰ(8)、探测器Ⅱ(9)与探测器Ⅲ(10)为线阵CCD探测器。

7.根据权利要求1所述的基于测量顶角和入射角的红外玻璃折射率光电检测系统，其特征在于：所述的探测器Ⅳ(11)为面阵CCD探测器。