[发明专利]一种5754铝合金光谱标准样品和5754铝合金成分检测方法

说明书

技术领域

本发明属于合金领域，尤其涉及一种5754铝合金光谱标准样品和5754铝合金成分检测方法。

背景技术

所谓铝合金，就是在工业纯铝中加入适量的其他元素，使铝的本质得到改善，以满足工业上和生活中的各种需要。由于铝合金比重小，比强度高，具有良好的综合性能，因此，被广泛用于航空工业、汽车制造业、动力仪表、工具及民用器皿制造等方面。

在铝合金的研发和生产过程中，需要对铝合金中的化学成分进行分析，从而达到严格控制各化学成分含量的目的，进而避免合金生产过程中炉前成分失控，同时保证合金产品的质量。合金的化学成分检测方法主要有化学分析法和光电光谱分析法，化学法由于其操作繁锁，重现性差，分析周期长(分析周期在4小时以上)，且涉及重金属污染，因而限制了该法的使用；而光电光谱分析法因其快速、准确、环保、操作简便等特点，在工矿企业、商检、科研院所等国民经济各行业得到广泛的应用。但根据光电光谱分析法原理，其应用有个先决条件：分析任何合金之前，必须要有相对应的合金标准样品校正光谱分析结果，以保证分析结果的准确性。

5754铝合金属于5×××系列合金铝板，广泛应用于焊接结构、贮槽、压力容器、船舶结构与海上设施、运输槽罐以及用于要求有优良加工性能、优良耐蚀性、高疲劳强度、高可焊性和中等静态强度的场合。由于光谱标准样品需要满足成分准确性的要求，而现有标准样品中并无合适的标准样品在成分上与5754铝合金相对应，因此需要研制专用5754铝合金标准样品对5754铝合金的光谱分析结果进行校正。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种5754铝合金光谱标准样品和5754铝合金成分检测方法，本发明提供的标准样品可用于5754铝合金光谱分析结果的校正。

本发明提供了一种5754铝合金光谱标准样品，包括：

0.05～0.4wt％的Si；

0.2～0.4wt％的Fe；

0.06～0.1wt％的Cu；

0.02～0.3wt％的Mn；

3.0～3.6wt％的Mg；

0.05～0.3wt％的Cr；

0.05～0.1wt％的Zn；

0.1～0.15wt％的Ti；

和余量的Al。

优选的，所述标准样品包括0.08～0.092wt％的Si。

优选的，所述标准样品包括0.283～0.301wt％的Fe。

优选的，所述标准样品包括0.068～0.074wt％的Cu。

优选的，所述标准样品包括0.24～0.26wt％的Mn。

优选的，所述标准样品包括0.054～0.062wt％的Cr。

优选的，所述标准样品包括0.094～0.1wt％的Zn。

优选的，所述标准样品为圆柱体。

优选的，所述标准样品的直径为55～60mm；所述标准样品的高为35～50mm。

本发明提供了一种5754铝合金成分检测方法，包括以下步骤：

a)使用上述标准样品对原子发射光谱谱线强度标准曲线进行校正，得到校正后的原子发射光谱谱线强度标准曲线；

b)对5754铝合金待测样品进行原子发射光谱分析，根据待测样品所含金属元素的谱线强度及校正后的原子发射光谱谱线强度标准曲线，得到5754铝合金待测样品中各元素的含量。

与现有技术相比，本发明提供了一种5754铝合金光谱标准样品和5754铝合金成分检测方法。本发明提供的5754铝合金光谱标准样品，包括：0.05～0.4wt％的Si；0.2～0.4wt％的Fe；0.06～0.1wt％的Cu；0.02～0.3wt％的Mn；3.0～3.6wt％的Mg；0.05～0.3wt％的Cr；0.05～0.1wt％的Zn；0.1～0.15wt％的Ti和余量的Al。采用由本发明提供的5754铝合金标准样品校正的原子发射光谱谱线强度标准曲线对5754铝合金待测样品进行成分分析，其结果与采用化学分析法进行成分分析的结果相符。说明采用本发明提供的方法制得的5754铝合金光谱标准样品能够满足5754铝合金的生产和研发使用，即可用于5754铝合金光谱分析结果的校正，进而提高5754铝合金生产效率与产品质量。

附图说明