[发明专利]一种锻件的超声波探伤工艺

说明书

技术领域

本发明涉及一种锻件的超声波探伤工艺。

背景技术

现有的锻件的超声波探伤工艺在工艺步骤和设备参数等方面的调整还存在一定的经验性和技术性，对于新入手的操作者来说，还需要进行大量的练习才能掌握操作技巧，生产出质量较好的产品。

发明内容

为了实现本发明的目的，本发明提供一种操作方便、快捷、容易上手的锻件的超声波探伤工艺。

为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：

一种锻件的超声波探伤工艺，包括如下工序：

1）、探伤设备应符合下列规定:

a.仪器和探头的组合灵敏度：在达到所探工件最大声程处的探伤灵敏度时,灵敏度余量至少为10dB；

b.探头频率主要为2.5MHZ，频率误差为+10%；

c.主要采用晶片尺寸为Φ20mm的硬保护膜直探头；

d.必要时可采用2MHZ或2.25MHZ的，以及晶片尺寸不大于28mm的探头；

e.探头主声束应无双峰、无偏斜；

2）、耦合剂

可用机油、甘油等透声性能好、具不损害工件的液体；

3）、操作方法:

3.1）锻件一般应进行纵波探伤，简形锻件根据需要，可进行横波探伤；

3.2）检验探伤面的光洁度，应不低于5，且表面平整均匀，与反射面平行，圆柱形锻件其端面应与轴线垂直，以便轴向探伤，方型锻件的端面应加工平整，相邻的端面应相互垂直；探伤表面应无划伤；

3.3）锻件的几何形状及表面检查合格后，方可进行探伤；

3.4）用棉纱及布去除探伤表面的油垢和污物；

4）、灵敏度

a.原则利用大平底采用计算法（查CTS-22型仪器、2.5MHZ、Φ20mm探头的AVG曲线图）确定探伤灵敏度；对由于几何形状所限，以及缺陷附近探伤区内的工件，可采用试块法；

b.用底波法校正灵敏度，校正点的位置应选在工件上无缺陷的完好区域；

c.对于检测面是曲面而又无法采用底波法的工件，采用与工件相同或相近（0、7-1、1倍）的参考试块；或采用小直径晶片的探使其近伤区的长度小于等于1/4工件半径这样可不需要进行曲面补偿；

d.探伤灵敏度不得低于Φ2mm当量直径；

5）、扫查方法

a.锻件原则上应从两相互垂直方向进行探伤,尽可能地检测到锻件的全体积；

b.扫查范围：应对锻件整个表面进行连续全面扫查；

c.扫查速度：探头移动速度不超过150mm/s；

d.扫查覆盖应为探头直径的15%以上；

e.当锻件探测厚度大于400mm时，应从相对两端面探伤。

本发明操作简单，对操作者经验要求低，而且产品质量高。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步说明：

一种锻件的超声波探伤工艺，包括如下工序：

1）、探伤设备应符合下列规定:

a.仪器和探头的组合灵敏度：在达到所探工件最大声程处的探伤灵敏度时,灵敏度余量至少为10dB；

b.探头频率主要为2.5MHZ，频率误差为+10%；

c.主要采用晶片尺寸为Φ20mm的硬保护膜直探头；

d.必要时可采用2MHZ或2.25MHZ的，以及晶片尺寸不大于28mm的探头；

e.探头主声束应无双峰、无偏斜；

2）、耦合剂

可用机油、甘油等透声性能好、具不损害工件的液体；

3）、操作方法:

3.1）锻件一般应进行纵波探伤，简形锻件根据需要，可进行横波探伤；

3.2）检验探伤面的光洁度，应不低于5，且表面平整均匀，与反射面平行，圆柱形锻件其端面应与轴线垂直，以便轴向探伤，方型锻件的端面应加工平整，相邻的端面应相互垂直；探伤表面应无划伤；

3.3）锻件的几何形状及表面检查合格后，方可进行探伤；

3.4）用棉纱及布去除探伤表面的油垢和污物；

4）、灵敏度

a.原则利用大平底采用计算法（查CTS-22型仪器、2.5MHZ、Φ20mm探头的AVG曲线图）确定探伤灵敏度；对由于几何形状所限，以及缺陷附近探伤区内的工件，可采用试块法；

b.用底波法校正灵敏度，校正点的位置应选在工件上无缺陷的完好区域；