[发明专利]熔丝结构以及其监控方式有效

专利信息
申请号: 201410770334.7 申请日: 2014-12-15
公开(公告)号: CN105762137B 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: 苏煜翔 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L23/525 分类号: H01L23/525;G01R31/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 结构 及其 监控 方式
【权利要求书】:

1.一种熔丝结构的监控方式,包括:

提供熔丝结构,该熔丝结构包含:

基底,该基底包括浅沟绝缘区以及主动区;

熔丝主体,至少部分该熔丝主体设置于该主动区上;

阳极以及阴极,分别设置于该熔丝主体的两端,且位于该浅沟绝缘区上;以及

辅助元件,该辅助元件包括源极区以及漏极区,分别设置于该熔丝主体的两相对侧,且位于该主动区上,该辅助元件用以监控并诊断该熔丝主体,且该熔丝主体与该源极区以及该漏极区电性分离;

施加一漏极电压信号至该辅助元件的该漏极区;

施加一栅极电压信号至该熔丝主体;

分析由该源极区所获得的一信号以诊断该熔丝主体的状况,其中该栅极电压信号为一栅极电压脉冲信号,且由该源极区所获得的该信号为一反应电压脉冲信号;以及

比对该栅极电压脉冲信号与该反应电压脉冲信号的时序与波形。

2.如权利要求1所述的熔丝结构的监控方式,其中该辅助元件还包括栅极,且该栅极包括该源极区与该漏极区之间的部分的该熔丝主体。

3.如权利要求1所述的熔丝结构的监控方式,其中该辅助元件的该源极区与该漏极区设置于该基底中。

4.如权利要求1所述的熔丝结构的监控方式,其中该熔丝主体包括硅层以及硅化物层设置该硅层之上。

5.如权利要求1所述的熔丝结构的监控方式,还包括氧化物层,设置于该熔丝主体与该基底之间。

6.如权利要求1所述的熔丝结构的监控方式,其中该浅沟绝缘区围绕该辅助元件的该源极区与该漏极区。

7.如权利要求1所述的熔丝结构的监控方式,其中该源极区与该漏极区是该基底中的掺杂区。

8.如权利要求1所述的熔丝结构的监控方式,其中该基底包括硅基底或硅覆绝缘基底。

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