[发明专利]一种光配向特性检测方法、装置及系统

说明书

本发明公开了一种光配向特性检测方法、装置及系统，其中，该方法包括：形成具有第一光学器件和第二光学器件的光学组合，所述第一光学器件包括至少一偏光片，所述第二光学器件是设置有已光固化配向膜的待测材料；使光线透过所述光学组合，同时改变所述第一光学器件中偏光片的光轴与所述第二光学器件中配向膜的光轴之间的夹角；以及测量透过所述光学组合后的光线，以获得不同所述夹角情况下的光强，从而获得所述配向膜的光配向特性。通过上述方式，本发明能够把偏振光测试法应用于面板生产过程中的线上检测，以解决测试方法受到基板类型局限的技术问题。

技术领域

本发明涉及移动终端技术领域，特别是涉及一种光配向特性检测方法、装置及系统。

背景技术

现有技术中，通过向配向膜或配向层(以下称作“光配向膜)照射偏极化紫外光，与光极化方向平行的高分子发生光化学反应，使薄膜表面产生异向性分布，诱导液晶分子排列，以此进行配向的被称作光配向的技术，该光配向被广泛应用于液晶显示显示面板的液晶显示元件所具有的液晶配向膜的配向等。

现有的光配向技术检测方法通常分为单膜检测和成盒检测，其中，单膜检测一般包括偏振吸收谱测试、相位延迟量测，成盒测试包括光学特性量测。

通常，在面板生成过程中的线上检测对于面板生产至关重要，但对于光配向技术，现有的线上检测方法一般为相位延迟量测，其利用膜面对光的反射特性及时判定材料照光后的配向特性。但是，这种方法的应用会受到基板类型的局限，无法量测某些类型的。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种光配向特性检测方法、装置及系统，把偏振光测试法应用于面板生产过程中的线上检测，以解决测试方法受到基板类型局限的技术问题。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种光配向特性检测方法，所方法包括：形成具有第一光学器件和第二光学器件的光学组合，所述第一光学器件包括至少一偏光片，所述第二光学器件是设置有已光固化配向膜的待测材料；使光线透过所述光学组合，同时改变所述第一光学器件中偏光片的光轴与所述第二光学器件中配向膜的光轴之间的夹角；以及测量透过所述光学组合后的光线，以获得不同所述夹角情况下的光强，从而获得所述配向膜的光配向特性。

其中，所述形成具有第一光学器件和第二光学器件的光学组合的步骤具体为：根据所述待测材料类型确定所述第一光学器件中包含的偏光片的数量、各所述偏光片之间的光轴关系、各所述偏光片与所述第二光学器件之间的光学位置关系。

其中，所述根据所述待测材料类型确定所述第一光学器件中包含的偏光片的数量、各所述偏光片之间的光轴关系、各所述偏光片与所述第二光学器件之间的光学位置关系的步骤包括：当所述待测材料类型为设置有已光固化配向膜的基板时，相应地确定所述第一光学器件中包含一片偏光片，以及确定所述偏光片位于所述基板的朝向或背对所述光线的方向。

其中，所述根据所述待测材料类型确定所述第一光学器件中包含的偏光片的数量、各所述偏光片之间的光轴关系、各偏光片与第二光学器件之间的光学位置关系的步骤包括：所述待测材料类型为设置有已光固化配向膜的基板，相应地确定所述第一光学器件中包含两片偏光片，以及确定各所述偏光片位于所述基板的朝向或背对所述光线的方向，其中，所述两片偏光片的光轴相互平行。

其中，所述设置有已光固化配向膜的基板为涂有聚酰亚胺薄膜PI的素玻璃基板、阵列玻璃基板或彩色滤光片基板。

其中，所述根据所述待测材料类型确定所述第一光学器件中包含的偏光片的数量、各所述偏光片之间的光轴关系、各偏光片与第二光学器件之间的光学位置关系的步骤包括：所述待测材料类型为设置有已光固化配向膜的基板，相应地确定所述第一光学器件中包含两片偏光片，以及确定各所述偏光片位于所述基板的朝向或背对所述光线的方向，其中，所述两片偏光片的光轴相互垂直。

其中，所述设置有已光固化配向膜的基板为成盒后的液晶基板。