[发明专利]一种卫星导航终端全向干扰的测试装置、系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及卫星导航终端、通信系统、雷达等电子设备的全向干扰的测试装置、系统及方法，属于天线测试和电子对抗技术领域。

背景技术

众所周知，卫星导航、通信系统、雷达等电子设备的接收信号通常非常微弱，信号在传播过程中很容易受到各种干扰的影响。因此，卫星导航等终端设备必须具备一定的抗干扰性能才能保证其正常的工作，此项性能的检测在卫星导航终端产品检测中是一项非常重要的要求，而干扰信号的施加是其中的重要环节。

目前，在卫星导航终端抗干扰性测试中，常用的方法是在微波暗室的合适位置安装导轨，导轨上有可以移动的干扰天线，通过干扰天线在导轨上的移动可以达到对待检测电子设备各个方向施加干扰的效果。但这种传统的方法是在不安装紧缩场的普通微波暗室中进行的，若是微波暗室中安装有紧缩场，则紧缩场的存在会妨碍导轨在暗室前方的安装，因而部分方位的干扰将不能有效地模拟。并且，传统的测量方法只能模拟来自天线辐射上半球面的干扰，不能对来自后向的干扰进行模拟，而在实际应用中，卫星导航终端设备常常会受到来自大地、海面以及低高度障碍物反射干扰波，此时的方位大多是来自卫星导航终端设备的后方，这部分的干扰绝对不能被忽略。因此，使用传统的测试方法不能对卫星导航终端的全向抗干扰性能进行全面而有效的测量。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种卫星导航终端全向干扰的测试装置、系统及方法，解决了在微波暗室装有紧缩场的情况下无法安装前方干扰源的问题，以及无法模拟天线后方干扰源的问题。

本发明为解决上述技术问题采用以下技术方案：

一种卫星导航终端全向干扰的测试装置，在微波暗室中安装有紧缩场、发射天线、干扰天线、导轨、转轴；所述发射天线放置于所述紧缩场的焦点处；将放置待测设备的地方定义为待测设备测试位置，所述紧缩场的安装位置使得紧缩场的中心与待测设备测试位置的中心位于同一直线；定义待测设备测试位置的中心为射线端点，朝向紧缩场中心的方向为射线方向；所述干扰天线通过转轴安装在导轨上，可在导轨上滑动并通过转轴自由摆动，使得干扰天线发射的干扰信号与所述射线的夹角范围为0°-180°。

进一步的，所述卫星导航终端全向干扰的测试装置还包括用于放置待测设备的测试台。

优选的，所述导轨包括第一~第四导轨，第三导轨包括弧形导轨和直导轨，第一、第二、第四导轨均为直导轨；所述第一导轨从发射天线处向远离测试台的方向延伸，并与第二导轨的一端在竖直方向垂直相连；所述第二导轨的另一端与第三导轨在竖直方向垂直相连；所述弧形导轨的一端与紧缩场有效反射面的边缘接近但不接触，且与紧缩场中心的距离大于紧缩场有效辐射区边长的一半，另一端与第三导轨的直导轨一端相连；所述第三导轨的直导轨另一端与第四导轨在水平方向垂直相连，且第四导轨与第一导轨平行；第四导轨的长度为待测设备测试位置的中心到第三导轨的直导轨的水平距离，第三、第四导轨与待测设备测试位置位于同一平面。

优选的，所述第一导轨安装于所述微波暗室的地面上。

优选的，所述第二导轨、第三导轨的直导轨、第四导轨均安装于所述微波暗室的墙面上。

一种卫星导航终端全向干扰的测试系统，包括如上所述卫星导航终端全向干扰的测试装置、控制模块、信号处理模块，所述控制模块与所述干扰天线连接，所述信号处理模块用于与待测设备连接。

一种卫星导航终端全向干扰的测试方法，利用如上所述测试系统实现，将待测设备正面朝向紧缩场放置于测试台上，并保持待测设备的中心与紧缩场的中心在同一直线上，控制干扰天线沿着导轨移动，使得干扰天线发射的干扰信号与上述射线的夹角从0°到180°之间变化，测量待测设备对来自0°-180°干扰信号的抗干扰能力；根据测量精度要求，将待测设备绕射线转动一定角度，并进行上述抗干扰测量；经多次转动后待测设备回到第一次测量时的状态，最后得到待测设备在360°干扰信号下的抗干扰能力。

本发明采用以上技术方案与现有技术相比，具有以下技术效果：

1、本发明卫星导航终端全向干扰的测试装置、系统及方法，通过第一导轨与紧缩场的共同作用，使得在微波暗室装有紧缩场的情况下能够给待测设备从前方施加干扰；并利用第三与第四导轨，完成了来自待测设备后方的干扰信号模拟。

2、本发明卫星导航终端全向干扰的测试装置、系统及方法，结构简单易于实现，具有较高的实用意义。

附图说明

图1是本发明卫星导航终端全向干扰的测试装置的三维结构模型图。