[发明专利]一种嵌入式系统的调试方法及调试系统

说明书

本发明公开了一种嵌入式系统的调试方法及调试系统，该方法包括设置调试模式；根据所述调试模式将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器；接收所述待调试程序文件，并将所述待调试程序文件存储至所述随机存取存储器中；接收调试指令，并运行所述调试指令，对所述待调试程序文件进行调试。本发明所述的嵌入式系统的调试方法及调试系统提高了调试过程中待调试程序文件下载的速度，并提高了嵌入式系统的寿命。

技术领域

本发明涉及嵌入式系统调试领域，尤其涉及一种嵌入式系统的调试方法及调试系统。

背景技术

在嵌入式系统的软件开发和测试阶段，都会对编写的程序进行调试。在调试过程中，需要将待调试程序文件下载到嵌入式系统中。

现有技术中，待调试程序文件的下载地址空间为嵌入式系统的快闪记忆体(FLASH)映射的地址空间。此时，现有的调试方法会频繁地将编写、修改后的程序文件下载到所述FLASH中。由于擦写FLASH都比较费时，如果程序文件比较大，每次下载可能需要耗费数十秒。另外每次调试下载，都会擦写FLASH，而FLASH有一定的寿命，因此现有的调试方法会缩短FLASH的寿命，从而影响整个嵌入式系统的寿命。

发明内容

本发明的目的在于提出一种嵌入式系统的调试方法及调试系统，能够解决现有技术中待调试程序文件下载速度慢以及反复擦写FLASH引起的FLASH寿命短，从而影响整个嵌入式系统的寿命的问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

第一方面，本发明公开了一种嵌入式系统的调试方法，包括：

设置调试模式；

根据所述调试模式将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器；

接收所述待调试程序文件，并将所述待调试程序文件存储至所述随机存取存储器中；

接收调试指令，并运行所述调试指令，对所述待调试程序文件进行调试。

进一步地，所述设置调试模式之前还包括：

发送调试模式更改请求；

接收所述调试模式更改请求，

所述设置调试模式具体为：

根据所述调试模式更改请求设置调试模式。

进一步地，所述发送调试模式更改请求之前还包括：

设置所述待调试程序文件的下载地址空间映射至快闪记忆体，并链接完成所述待调试程序文件。

第二方面，本发明公开了一种嵌入式系统的调试系统，包括：控制主机、调试电路和嵌入式系统，

所述控制主机通过所述调试电路与所述嵌入式系统连接；

所述控制主机通过所述调试电路向所述嵌入式系统发送控制指令及待调试程序文件；

所述嵌入式系统用于接收所述控制指令，并执行所述控制指令。

进一步地，所述控制指令包括调试模式更改请求和调试指令，所述嵌入式系统包括：总线、调试接口、调试模式寄存器、调试模式控制模块、快闪记忆体、随机存取存储器和控制器，

所述调试接口、所述调试模式寄存器、所述调试模式控制模块和所述控制器分别与所述总线连接，所述调试模式控制模块通过相应的选择性连接部件连接所述快闪记忆体或所述随机存取存储器；

所述调试接口用于接收所述控制指令和所述待调试程序文件；

所述调试模式寄存器用于根据所述调试模式更改请求设置调试模式的值；