[发明专利]一种光学检测系统和方法

权利要求书

1.一种光学检测系统，其特征在于，包括：检测探头、收集单元和处理单元，其中：

所述检测探头包括多个光谱光电二极管，每个所述光谱光电二极管均用于发射单色光，并令所述单色光照射至样品上，其中，至少一个光谱光电二极管所发射的单色光的波长与其它光谱光电二极管不同；

所述收集单元用于收集所述多个光谱光电二极管发射的单色光经所述样品表面反射后得到的多路信号光；

所述处理单元包括光电转换模块、加法模块和检测模块：所述光电转换模块用于将所述收集单元所收集到的多路信号光分别转换为多路电信号；所述加法模块用于对所述多路电信号进行加法运算，得到运算结果；所述检测模块用于根据所述运算结果对所述样品的品质参数进行检测，输出检测结果。

2.根据权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于，所述检测探头还用于：

根据需检测的样品的品质参数类型选择所述特征波段的光谱光电二极管。

3.根据权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于：

每个光谱光电二极管均包括反射光出射孔，所述反射光出射孔连接光纤，所述光纤用于收集经所述样品表面反射后的信号光并传输至所述收集单元。

4.根据权利要求3所述的光学检测系统，其特征在于：

所述反射光出射孔位于所述光谱光电二极管的中心位置。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的光学检测系统，其特征在于：

所述加法模块包括：运算放大器；

所述加法模块还用于：对所述多路电信号进行放大运算。

6.一种光学检测方法，其特征在于，利用权利要求1至5中任一项所述的光学检测系统进行光学检测，包括：

将多路单色光入射至样品表面；

接收所述多路单色光经所述样品表面反射得到的多路信号光；

将所述多路信号光分别转换为多路电信号；

对所述多路电信号进行加法运算，得到运算结果；

根据所述运算结果对所述样品的品质参数进行检测，输出检测结果。

7.根据权利要求6所述的光学检测方法，其特征在于：

所述将所述多路信号光分别转换为多路电信号包括：

将n路信号光S₁,S₂,。。。。。,S_n经过光电转换后转换为n路电压信号V₁,V₂,。。。。。,V_n；

所述对所述多路电信号进行加法运算，得到运算结果包括：

对所述n路电压信号V₁,V₂,。。。。。,V_n进行加法运算，得到运算结果y：

y＝c+k₁V₁+k₂V₂+……+k_nV_n，

其中c为常数，取决于检测条件和检测环境，{k₁,k₂,……,k_n}为所述n路电压信号对应的系数矩阵；

所述根据所述运算结果对所述样品的品质参数进行检测，输出检测结果包括：

将所述运算结果y与对应于所述样品需检测的品质参数的预设阈值进行比较：当所述运算结果y在所述预设阈值之内时，认为所述样品的相应品质良好；否则，认为所述样品的相应品质不好。