[发明专利]样品测量池在审
申请号: | 201410781960.6 | 申请日: | 2014-12-17 |
公开(公告)号: | CN105445195A | 公开(公告)日: | 2016-03-30 |
发明(设计)人: | 邓文平 | 申请(专利权)人: | 邓文平 |
主分类号: | G01N21/03 | 分类号: | G01N21/03 |
代理公司: | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 杨林洁 |
地址: | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 样品 测量 | ||
1.一种样品测量池,其特征在于,所述样品测量池包括:
反射腔,用于容置待测样品;以及
至少一个反射结构,所述至少一个反射结构设置于所述反射腔的边界;
其中,所述反射结构包括两个反射面和至少一个接触面,所述接触面接触所述待测样品,所述反射面远离所述待测样品,所述反射面为全反射面或非全反射面,当所述反射面为全反射面时,入射光在所述反射腔内的多次反射的传播路径不在一个平面内;当所述反射面为非全反射面时,所述非全反射面上镀有反射膜。
2.根据权利要求1所述的样品测量池,其特征在于,所述至少一个反射结构为两个相对设置的二次反射型棱镜。
3.根据权利要求1所述的样品测量池,其特征在于,所述至少一个反射结构为两个相对设置的二镜反射镜。
4.根据权利要求1、2或3所述的样品测量池,其特征在于,所述二次反射型棱镜或所述二镜反射镜形成第一平面及第二平面,所述二次反射型棱镜或所述二镜反射镜的所述两个反射面交界处形成一轴线,所述第一平面垂直于所述轴线,所述第二平面垂直于所述第一平面且包括所述入射光,所述入射光与所述第一平面之间的夹角大于0°且小于90°。
5.根据权利要求1、2或3所述的样品测量池,其特征在于,所述接触面及所述反射面的至少其中之一为非平面。
6.根据权利要求5所述的样品测量池,其特征在于,所述非平面为球面、柱面、二次曲面、自由曲面或非球面。
7.根据权利要求1、2或3所述的样品测量池,其特征在于,所述入射光的光斑的束腰位置位于所述反射腔的内部。
8.根据权利要求1、2或3所述的样品测量池,其特征在于,所述至少一个反射结构之间具有夹角,所述夹角取值范围为0°~360°。
9.根据权利要求1、2或3所述的样品测量池,其特征在于,所述反射面上设置有保护结构,所述保护结构用于保护所述反射面。
10.根据权利要求1、2所述的样品测量池,其特征在于,当所述反射面为全反射面时,所述反射面上设置有反射膜。
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