[发明专利]LED芯片及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201410788201.2 申请日: 2014-12-17
公开(公告)号: CN104465934A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 卢廷昌 申请(专利权)人: 聚灿光电科技(苏州)有限公司
主分类号: H01L33/42 分类号: H01L33/42;H01L33/38;H01L33/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 常亮
地址: 215123 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: led 芯片 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种LED芯片,所述LED芯片包括衬底、N型半导体层、多量子阱发光层、P型半导体层、以及位于N型半导体层上方的N电极和位于P型半导体层上方的P电极,其特征在于,所述衬底上方的N型半导体层、多量子阱发光层和P型半导体层全部或部分刻蚀形成奈米柱,所述奈米柱上方倾斜设有氧化物奈米柱,氧化物奈米柱上方设有二维透明导电层,二维透明导电层串接所有氧化物奈米柱,所述P电极位于二维透明导电层上方。

2.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述奈米柱刻蚀至N型半导体层、多量子阱发光层、或P型半导体层。

3.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述奈米柱的高度为20nm~2000nm,横截面大小为10nm~5000nm。

4.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述奈米柱的排列为规则排列或不规则排列,奈米柱的横截面为圆形、三角形、六角形、多边形或不规则形。

5.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述二维透明导电层为石墨烯、MoS2、WSe2中的一种或多种的组合。

6.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述氧化物奈米柱为ITO、ZnO、AZO、GZO、IGZO、AGZO中的一种或多种的组合。

7.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述氧化物奈米柱的倾斜角度为10°~70°。

8.根据权利要求1所述的LED芯片,其特征在于,所述氧化物奈米柱的高度为100nm~5000nm,横截面大小为10nm~5000nm。

9.一种如权利要求1中LED芯片的制作方法,其特征在于,所述方法包括:

S1、提供一衬底,在衬底上依次生长N型半导体层、多量子阱发光层、P型半导体层;

S2、刻蚀全部或部分N型半导体层、多量子阱发光层和P型半导体层形成奈米柱;

S3、使用斜向沉积的方式在奈米柱上沉积倾斜的氧化物奈米柱;

S4、在氧化物奈米柱上方形成串接所有氧化物奈米柱的二维透明导电层;

S5、在二维透明导电层上方形成P电极,在N型半导体层上形成N电极。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述步骤S3具体为:

在基板上采用CVD的方式形成二维透明导电层;

将二维透明导电层从基板上剥离;

将剥离后的二维透明导电层转印到奈米柱的表面。

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