[发明专利]超长焦距空间相机焦距的精密测量方法有效

专利信息
申请号: 201410788325.0 申请日: 2014-12-17
公开(公告)号: CN104515671A 公开(公告)日: 2015-04-15
发明(设计)人: 马洪涛;金辉;韩冰;李旭;周兴义 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 陶尊新
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 超长 焦距 空间 相机 精密 测量方法
【权利要求书】:

1.超长焦距空间相机焦距的精密测量方法,其特征是,该方法由以下步骤实现:

超长焦距空间相机焦距的精密测量方法,该方法由以下步骤实现:

步骤一、采用球径仪测量4D干涉仪球面标准镜的曲率半径,采用镜面定位仪测量所述4D干涉仪球面标准镜的透镜厚度,并根据获得的曲率半径及透镜厚度计算4D干涉仪球面标准镜的焦距;

步骤二、将所述4D干涉仪球面标准镜安装到4D干涉仪上,并将4D干涉仪放置五维调整台上;

步骤三、采用镜面定位仪测量基准尺的长度,并将测量长度后基准尺放置在二维调整台上;

步骤四、将被测相机、平面镜及基准尺放置在所述4D干涉仪的前方并进行粗调整,并通过步骤二中所述的4D干涉仪的五维调整台以及平面镜的调整机构对4D干涉仪及平面镜精细调整;使被测相机及基准尺的干涉图在4D干涉仪的探测器上成像;

步骤五、采用四象限分析法计算探测器上的成像,获得基准尺的像的长度;

步骤六、根据步骤一获得的4D干涉仪球面标准镜的焦距,步骤三获得的基准尺长度以及步骤五获得的基准尺的像的长度,获得被测相机的焦距。

2.根据权利要求1所述的超长焦距空间相机焦距的精密测量方法,其特征在于,步骤四中的粗调整指:使4D干涉仪、被测相机以及平面镜在高度,左右位置相对应。

3.根据权利要求1或2所述的超长焦距空间相机焦距的精密测量方法,其特征在于,步骤四中所述的精细调整,使被测相机的干涉图在4D干涉仪的探测器上成像,具体过程为:所述4D干涉仪出射的平面波经4D干涉仪球面标准镜变为球面波,将所述球面波汇聚点调试到被测相机4的焦点处,球面波经被测相机4后以平行光出射到平面镜11变为平行光,所述平行光经平面镜11反射后依次经过被测相机4,4D干涉仪9在4D干涉仪的探测器上成像。

4.根据权利要求3所述的超长焦距空间相机焦距的精密测量方法,其特征在于,所述平面镜的反射面上放置基准尺,平行光经平面镜11反射后带有基准尺的长度信息。

5.根据权利要求4所述的超长焦距空间相机焦距的精密测量方法,其特征在于,所述基准尺的长度在400mm±50mm。

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