[发明专利]阵列基板及显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体地说，涉及一种阵列基板及显示装置。

背景技术

随着显示技术的发展，液晶显示器已经成为最为常见的显示装置。

液晶显示器的中间为显示区域，在显示区域的外围设置有测试区域。在测试区域中设置有若干测试端子和测试线，在测试端子上插接探针即可测试液晶显示器是否存在不良。

不同的测试端子分别用于测试液晶显示器中不同的元件，目前的各个测试端子用于测试的元件包括红色信号线、绿色信号线、蓝色信号线、奇数扫描线、偶数扫描线、阵列基板上的公共金属线、彩膜基板上的公共电极等。其中，每个元件均对应设置有一个测试端子，且每个测试端子均对应设置有一条测试线。由于测试区域中的测试线较多，所以也会在很多地方采用交叉跨线的方式进行布线，而在交叉跨线处很容易发生静电释放(Electro-Static Discharge，简称ESD)，对测试线造成静电击伤，导致断线、短路等不良状况的发生。

发明内容

本发明的目的在于提供一种阵列基板及显示装置，以解决现有技术容易对测试线造成静电击伤的技术问题。

本发明提供一种阵列基板，包括显示区域和测试区域，

所述测试区域中设置有一组测试线路和至少两组测试端子；

每组所述测试端子中的各个测试端子，分别对应连接所述测试线路中的各条测试线；

其中一条测试线为公共电极线，用于公共金属线的测试和公共电极的测试。

进一步，所述测试线路中还包括红色信号线、绿色信号线、蓝色信号线、奇数扫描线和偶数扫描线。

优选的，所述至少两组测试端子包括至少一组阵列测试端子和至少一组基板测试端子。

进一步，所述阵列测试端子和所述基板测试端子的数量均为两组。

优选的，所述测试线路呈U形，所述显示区域被包围在U形的测试线路中。

优选的，两组阵列测试端子分别连接于U形的测试线路的两侧部，两组基板测试端子分别连接于U形的测试线路的两侧部。

进一步，该阵列基板还包括一组连接引线，所述测试线路通过所述连接引线连接至所述显示区域。

优选的，所述连接引线连接于U形的测试线路的中部。

本发明还提供一种显示装置，包括彩膜基板和上述的阵列基板。

本发明带来了以下有益效果：本发明提供的阵列基板中，公共电极线既可以用于阵列基板上的公共金属线的测试，还可以用于彩膜基板上的公共电极的测试，因此减少了测试线的条数，简化了测试区域的线路结构。在测试区域的布线中，因为测试线条数的减少，所以也减少了交叉跨线的使用，从而降低了测试线被静电击伤的风险。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要的附图做简单的介绍：

图1是本发明实施例一提供的阵列基板的示意图；

图2是本发明实施例一提供的阵列基板进行测试时的波形图；

图3是本发明实施例二提供的阵列基板的示意图。

具体实施方式

以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。需要说明的是，只要不构成冲突，本发明中的各个实施例以及各实施例中的各个特征可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。

实施例一：

本发明实施例提供一种阵列基板，包括显示区域100和测试区域200，其中测试区域200位于显示区域100的外围。

测试区域200中设置有一组测试线路10和至少两组测试端子，其中包括至少一组阵列(Array)测试端子20和至少一组基板(Cell)测试端子30。本实施例中，阵列测试端子20和基板测试端子30的数量均为两组。每组测试端子中的各个测试端子，分别对应连接测试线路中的各条测试线。

本实施例中，测试线路10中的一条测试线为公共电极线，用于公共金属线的测试和公共电极的测试。该公共电极线与阵列测试端子20中的公共电极线端子21相连，还与基板测试端子30中的公共电极线端子31相连。