[发明专利]一种基于信息熵的集成电路故障诊断方法

权利要求书

1.一种基于信息熵的集成电路故障诊断方法，其特征在于：所述集成电路故障诊断方法步骤如下：

(1)将被测电路的各个元件参数设置为标称参数，对该被测电路进行实测或仿真，得到各元件标称参数下的无故障被测电路的输出电压值或电流值；

(2)对步骤(1)中得到的输出电压值或电流值采用拉格朗日乘数法，计算得

到各元件标称参数下的无故障被测电路输出电压或电流的概率密度函数；

(3)对步骤(2)中得到的概率密度函数采用最大似然法，计算得到各元件标称参数下的无故障被测电路输出Rényi熵定义公式中的自由参数α；

(4)根据步骤(2)中得到的概率密度函数和步骤(3)中得到的自由参数α，计算得到各元件标称参数下的无故障被测电路输出的Rényi熵值A；

(5)对未知故障的被测电路进行实测，得到未知故障被测电路的输出电压值或电流值；

(6)对步骤(5)中得到的输出电压值或电流值采用拉格朗日乘数法，计算得到未知故障被测电路输出电压或电流的概率密度函数；

(7)对步骤(6)中得到的概率密度函数采用最大似然法，计算得到未知故障被测电路输出Rényi熵定义公式中的自由参数α；

(8)根据步骤(6)中得到的概率密度函数和步骤(7)中得到的自由参数α，计算得到未知故障被测电路输出的Rényi熵值B；

(9)将步骤(4)中得到的各元件标称参数下的无故障被测电路输出的Rényi熵值A，与步骤(8)中得到的未知故障被测电路输出的Rényi熵值B进行比较；如果则未知故障的被测电路中存在故障；如果则未知故障的被测电路中无故障。

2.根据权利要求1所述的基于信息熵的集成电路故障诊断方法，其特征在于：步骤(3)中的自由参数α和步骤(7)中的自由参数α均为Rényi熵定义公式HR(α,f)=11-αln(∫-ωωpα(f)df)]]>中的α。