[发明专利]一种基于压缩感知理论的单点中波红外成像系统在审

专利信息
申请号: 201410797030.X 申请日: 2014-12-19
公开(公告)号: CN104483025A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 唐艳秋;孙强;赵建;姚凯男 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J5/20 分类号: G01J5/20
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 张伟
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 压缩 感知 理论 单点 中波 红外 成像 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及单点中波红外成像系统技术领域,特别涉及一种基于压缩感知理论的单点中波红外成像系统。

背景技术

近年来,红外成像系统广泛应用于热成像、爆炸研究、目标特性检测、高速目标检测跟踪、伪装和反伪装以及机械设备状态监测等科研和国防领域。由于较高温度的目标在中波区域具有很强的辐射,因此中波红外探测器适用于对高温目标进行成像;同时中波红外系统通常需要采用制冷设备将芯片工作温度控制到100K以下,极大地抑制了噪声,因此中波红外成像系统相比长波红外成像系统具有更好的图像质量。

目前,国内使用的制冷型中波红外探测器主要依赖于进口,由于国外的限购政策以及产品生产工艺的限制,因此中波红外热像仪价格非常昂贵,达到几十万甚至上百万,极大的限制了国内中波红外技术的发展。

发明内容

本发明要解决现有技术中的面阵中波红外成像系统价格昂贵的技术问题,提供一种利用成本较低的数字微镜阵列(DMD)和制冷型单点中波红外探测器搭建的,基于压缩感知理论的单点中波红外成像系统。

为了解决上述技术问题,本发明的技术方案具体如下:

一种基于压缩感知理论的单点中波红外成像系统,包括:

DMD芯片、DMD控制电路、单点探测器、数据采集单元、数据重构单元、光学系统;

DMD控制电路可根据基于压缩感知理论预先给定的测量矩阵控制DMD芯片的翻转状态;

测量矩阵包含0、1的矩阵,其中0表示微镜的OFF状态,1表示微镜的ON状态;通过控制微镜的翻转状态决定该点的光能量值是否被探测器所接收;

数据采集单元接收到DMD控制单元发出的外同步信号时,可对单点探测器输出模拟信号进行采集,经过放大、A/D转换后,将形成的数字信号经图像采集卡输送到上位机;然后在数据重构单元中对数据进行重构,获得精确的外界场景图像。

在上述技术方案中,当微镜处于ON状态时,反射镜发生正向翻转,光线经过第二个透镜,被位于像平面位置的红外单点探测器接收;当微镜处于OFF状态下,反射镜发生负向翻转,光线偏出视场外。

在上述技术方案中,所述微镜处于ON状态时,反射镜发生正向的+12°的翻转;当微镜处于OFF状态下,反射镜发生负向的-12°翻转。

本发明具有以下的有益效果:

本发明的基于压缩感知理论的单点中波红外成像系统可以解决现有技术中的中波红外热像仪价格非常昂贵,无法满足使用需求的技术难题。本发明提供了一种扫描效率高,占用存储空间小,而且成本较低的单点中波红外成像系统。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。

图1为本发明的基于压缩感知理论的单点中波红外成像系统的原理框图。

图2为本发明的基于压缩感知理论的单点中波红外成像系统中的光路图。

具体实施方式

本发明的发明思想为:一种基于压缩感知的中波红外面阵成像系统,主要由DMD芯片及控制电路、制冷型单点中波红外探测器、图像数据采集与重构、光学系统等构成。

DMD芯片是一种新型、全数字化的平面显示器件,应用微电子机械学(MEMS)技术将可旋转的微米级的铝制微反射镜和COMS SRAM集成在同一块芯片上。每个微反射镜相当于一个光开关,能够旋转±12°。微镜的旋转由COMSSRAM的状态决定,当存储器单元状态为“ON”即“1”状态时,微镜旋转+12°,使入射光线被反射到单点探测器上;当存储器单元状态为“OFF”即“0”状态时,微镜旋转-12°,入射光线偏出视场外。

通过控制DMD驱动电路,使每一时刻只有一个微反射镜处于“ON”状态,其余均处于“OFF”状态。按照从左到右、从上到下的顺序,遍历整个靶面,即可获得完整的靶面亮度信息。

经微镜反射的光线被单点探测器接收后,经过AD转换电路转换成数字信号,图像采集部分对数字信号进行采集,并按照从左到右、从上到下的顺序依次显示,就可以获得外界场景的图像。

单点扫描是获取整幅图像的最简单的方式,能真实再现场景信息,但也存在较大问题,DMD芯片通常由几十万甚至几百万片微反射镜组成,而DMD的翻转速度通常只有几千到几万次每秒,因此单点扫描费时太长,同时图像数据的存储、处理需占用大量的存储空间。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410797030.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top