[发明专利]一种带有斜面耦合端口的聚合物光波导的制备方法有效

专利信息
申请号: 201410798787.0 申请日: 2014-12-20
公开(公告)号: CN104503024A 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 衣云骥;张大明;王焕然;刘豫;王菲;孙小强;陈长鸣;王希斌 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: G02B6/13 分类号: G02B6/13;G03F7/20
代理公司: 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 代理人: 张景林;王恩远
地址: 130012 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 带有 斜面 耦合 端口 聚合物 波导 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种带有斜面耦合端口的聚合物光波导的制备方法,其步骤如下:

1)用激光器(1)在聚甲基丙烯酸甲酯薄片(2)上切割出贯穿的矩形蒸发窗口,沿激光方向,蒸发窗口的侧面形成斜坡结构,从而制备得到带有蒸发窗口的蒸发掩模版(3),然后用丙酮、乙醇、去离子水依次擦拭或超声清洗;

2)将光刻掩模版(4)放置于蒸发掩模版(3)的上方,真空条件下,在蒸发窗口内的光刻掩模版(4)上蒸镀铝膜(5),由于矩形蒸发窗口的掩膜作用,铝膜(5)亦为矩形结构,铝膜(5)在蒸发窗口斜坡结构对应的蒸发区域内形成同为斜坡结构但高度较小的灰度区域,灰度区域的长度与蒸发窗口斜坡结构在薄片表面的投影长度相同,光刻掩模版(4)和铝膜(5)共同构成灰度光刻掩模版(8);

3)在衬底(6)上旋涂正性光刻胶(7)成膜,再将该衬底于90~100℃下加热10~20分钟,然后自然降至室温;

4)将上述衬底放置于光刻机上,并在正性光刻胶(7)上压盖步骤2)制备的灰度光刻掩模版(8),使带有灰度区域的铝膜(5)与光刻胶(7)接触;然后曝光6~15秒,曝光强度20~30mW/cm2,从而形成与灰度区域斜坡升降关系相反的光刻胶斜面图案;

5)移去灰度光刻掩模版(8),然后再在光刻胶(7)上压盖波导光刻板(9),使波导光刻板上波导图案的方向与光刻胶斜面的端口方向相平行,波导图案所覆盖的区域不透光,曝光时间6~15秒,曝光强度15~30mW/cm2

6)将二次曝光后的衬底(6)显影,曝光的光刻胶被显影去除,显影后在衬底(6)上得到带有1个或2个斜坡耦合端口的聚合物光波导(10),最后坚膜,温度为90~120℃,时间为30~60分钟。

2.如权利要求1所述的一种带有斜面耦合端口的聚合物光波导的制备方法,其特征在于:步骤(1)中所述的激光器(1)为二氧化碳激光器,由电脑控制激光器在聚甲基丙烯酸甲酯薄片(2)水平面方向的定位移动;切割功率为5~40W,走刀速度为5~40mm/s。

3.如权利要求1所述的一种带有斜面耦合端口的聚合物光波导的制备方法,其特征在于:步骤(1)中所述的聚甲基丙烯酸甲酯薄片(2)的表面抛光,厚度为0.5~3mm。

4.如权利要求1所述的一种带有斜面耦合端口的聚合物光波导的制备方法,其特征在于:步骤(1)中所述的斜坡在薄片表面的投影长度L为10-400μm。

5.如权利要求1所述的一种带有斜面耦合端口的聚合物光波导的制备方法,其特征在于:步骤(1)中所述的铝膜(5)的厚度为30~90nm。

6.如权利要求1所述的一种带有斜面耦合端口的聚合物光波导的制备方法,其特征在于:步骤(2)中所述的光刻掩模板(4)是紫外透过良好的石英片或聚甲基丙烯酸甲酯片,厚度为1~3mm。

7.如权利要求1所述的一种带有斜面耦合端口的聚合物光波导的制备方法,其特征在于:步骤(3)中所述的衬底(6)是PMMA、玻璃或二氧化硅。

8.如权利要求1所述的一种带有斜面耦合端口的聚合物光波导的制备方法,其特征在于:步骤(3)中所述的正性光刻胶(7)涂膜后的厚度为1~50微米。

9.如权利要求1所述的一种带有斜面耦合端口的聚合物光波导的制备方法,其特征在于:步骤(5)中所述的波导图案的厚度为30~100nm,波导图案的宽度为2~200微米。

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