[发明专利]一种半导体用通孔/接触孔有效

专利信息
申请号: 201410802991.5 申请日: 2014-12-18
公开(公告)号: CN104505385B 公开(公告)日: 2018-01-19
发明(设计)人: 李晓坤 申请(专利权)人: 西安紫光国芯半导体有限公司
主分类号: H01L23/528 分类号: H01L23/528
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司61211 代理人: 张倩
地址: 710055 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 用通孔 接触
【权利要求书】:

1.一种半导体用通孔/接触孔,包括第一接触层(1)、连通孔(3)以及第二接触层(2),所述第一接触层(1)与第二接触层(2)通过连通孔(3)连接,其特征在于:还包括模拟层(4),所述模拟层包围在连通孔的外侧;

通过模拟层的定义和验证规则的设置,能够选择模拟层有效或无效。

2.根据权利要求1所述的半导体用通孔/接触孔,其特征在于:所述第一接触层为有源区、多晶硅或金属层,所述第二接触层为金属层。

3.根据权利要求1或2所述的半导体用通孔/接触孔,其特征在于:模拟层包围在通孔/接触孔的连通孔上。

4.根据权利要求3所述的半导体用通孔/接触孔,其特征在于:所述模拟层以一定的比例包围在通孔/接触孔的连通孔上。

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