[发明专利]一种半导体用通孔/接触孔有效
申请号: | 201410802991.5 | 申请日: | 2014-12-18 |
公开(公告)号: | CN104505385B | 公开(公告)日: | 2018-01-19 |
发明(设计)人: | 李晓坤 | 申请(专利权)人: | 西安紫光国芯半导体有限公司 |
主分类号: | H01L23/528 | 分类号: | H01L23/528 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司61211 | 代理人: | 张倩 |
地址: | 710055 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 用通孔 接触 | ||
1.一种半导体用通孔/接触孔,包括第一接触层(1)、连通孔(3)以及第二接触层(2),所述第一接触层(1)与第二接触层(2)通过连通孔(3)连接,其特征在于:还包括模拟层(4),所述模拟层包围在连通孔的外侧;
通过模拟层的定义和验证规则的设置,能够选择模拟层有效或无效。
2.根据权利要求1所述的半导体用通孔/接触孔,其特征在于:所述第一接触层为有源区、多晶硅或金属层,所述第二接触层为金属层。
3.根据权利要求1或2所述的半导体用通孔/接触孔,其特征在于:模拟层包围在通孔/接触孔的连通孔上。
4.根据权利要求3所述的半导体用通孔/接触孔,其特征在于:所述模拟层以一定的比例包围在通孔/接触孔的连通孔上。
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