[发明专利]抑制光反射的装置和光链路检测方法有效

专利信息
申请号: 201410806555.5 申请日: 2014-12-22
公开(公告)号: CN105790828B 公开(公告)日: 2018-07-27
发明(设计)人: 杜喆;沈成彬;蒋铭;朱俊 申请(专利权)人: 中国电信股份有限公司
主分类号: H04B10/071 分类号: H04B10/071;H04B10/075
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 赵倩男
地址: 100033 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 抑制 反射 装置 光链路 检测 方法
【说明书】:

发明公开一种抑制光反射的装置和光链路检测方法。该装置包括:UPC端面的陶瓷插芯,用于连接光分路器开路的输出端口,APC端面的陶瓷插芯,可拆卸地与UPC端面的陶瓷插芯连接,用于吸收反射光信号。本发明提供的抑制光反射的装置和光链路检测方法,通过在光分路器上安装抑制光反射的装置,吸收OTDR反射光信号,降低OTDR检测时的反射率,从而减小OTDR检测的盲区。

技术领域

本发明涉及光通信领域,尤其涉及一种抑制光反射的装置和光链路检测方法。

背景技术

OTDR(Optical Time Domain Reflectometer,光时域反射仪)是一种精密的光电一体化仪表,利用光线在光纤中传输时的瑞利散射和菲涅尔反射所产生的背向散射测量与诊断光链路,它被广泛应用于光缆线路的维护、施工之中,可进行光纤长度、传输衰减、接头衰减和故障定位等的测量。

在PON(Passive Optical Network,无源光纤网络)光接入网系统中,由于ODN(Optical Distribution Node,光分配节点)引入了光分路器,光分路器连接分支光纤,分支光纤上OTDR测试光脉冲信号大幅度衰减。当采用光时域反射仪(OTDR)对ODN光链路进行故障检测和诊断时,一旦光分路器输出端口存在开路的情况,将产生很强反射,导致产生很大的OTDR检测盲区,以至于OTDR无法检测到其后一定距离分支光纤上的衰减故障事件。

因此,有必要提供一种消除光分路器输出端口开路造成的OTDR检测盲区的装置或方法,以提高OTDR对分路器后分支光纤故障检测的效果。

发明内容

本公开要解决的一个技术问题是如何提供一种消除光分路器输出端口开路造成的OTDR检测盲区的装置,以提高OTDR对分路器后分支光纤故障检测的效果。

本公开提供一种抑制光反射的装置,包括:

UPC端面的陶瓷插芯,用于连接光分路器开路的输出端口,

APC端面的陶瓷插芯,可拆卸地与UPC端面的陶瓷插芯连接,用于吸收反射光信号。

进一步地,该抑制光反射的装置包括:插头,用于连接光分路器开路的输出端口。

进一步地,该插头为SC接头。

进一步地,该抑制光反射的装置还包括预埋光纤,贯穿UPC端面的陶瓷插芯并插入APC端面的陶瓷插芯中。

进一步地,该预埋光纤与该光分路器的开路的输出端口中的输出光纤相连接。

进一步地,该抑制光反射的装置还包括用于对APC端面的陶瓷插芯进行闭合保护的保护套管。

进一步地,拆卸APC端面的陶瓷插芯及内置的预埋光纤后,抑制光反射的装置作为快速机械连接器用于光纤成端。

本公开还提供一种光链路检测方法,包括:

通过安装在光分路器开路的输出端口上的该抑制光反射的装置,在进行OTDR检测时抑制OTDR检测信号的反射。

本公开提供的抑制光反射的装置和光链路检测方法,该装置包括UPC端面的陶瓷插芯,用于连接光分路器开路的输出端口,APC端面的陶瓷插芯,可拆卸地与UPC端面的陶瓷插芯连接,用于吸收反射光信号,通过在光分路器上安装抑制光反射的装置,吸收反射光信号,降低OTDR检测时的反射率,从而减小OTDR检测的盲区。

附图说明

图1示出本发明一实施例的抑制光反射的装置的结构示意图。

图2为本发明一实施例的光分路器输出端口开路的结构示意图。

图3示出本发明一实施例的光分路器开路的输出端口连接抑制光反射装置的结构示意图。

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