[发明专利]一种复合阻变存储器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201410810234.2 申请日: 2014-12-20
公开(公告)号: CN105762276A 公开(公告)日: 2016-07-13
发明(设计)人: 王丽丽 申请(专利权)人: 天津市龙旺诚数码喷绘有限公司
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 代理人: 韩敏
地址: 300304 天津市东丽区华*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 复合 存储 器件 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种复合阻变存储器件,其特征在于:包括ITO导电玻璃、第一聚合物层、第二聚合物层,所述的第一聚合物层和第二聚合物层之间设有纳米ZnXO1-X层,所述的第一聚合物层设置在ITO导电玻璃上,所述的第二聚合物层上设有电极,所述的电极与纳米ZnXO1-X绝缘形成。

2.根据权利要求1所述的复合阻变存储器件,其特征在于:所述的聚合物层为PVP聚合物层。

3.一种复合阻变存储器件的制备方法,其特征在于:包括以下步骤:

(1)用ITO导电玻璃作为复合阻变存储器件的基底,将ITO玻璃在酸溶液下腐蚀,然后依次用清洗剂、去离子水、丙酮和异丙醇溶液在超声清洗机中清洗;

(2)用匀胶机依次在ITO导电玻璃上旋涂PVP-甲醇溶液、纳米ZnXO1-X甲醇溶液、PVP-甲醇溶液,并干燥,匀胶机转速分别为2000rpm、400rpm、2000rpm;

(3)通过热蒸发法在第二聚合物层上形成铝电极,该铝电极厚度为150-300nm。

4.根据权利要求3所述的复合阻变存储器件的制备方法,其特征在于:所述的聚合物层为PVP聚合物层。

5.根据权利要求3所述的复合阻变存储器件的制备方法,其特征在于:所述的ZnXO1-X厚度为5-15nm。

6.根据权利要求3所述的复合阻变存储器件的制备方法,其特征在于:所述的ZnXO1-X的制备方法如下:

(a)将3g氯化锌溶于100ml乙醇中,混合后,转移到恒温800℃的水浴锅中水浴搅拌;

(b)称取1g氢氧化钠溶于100ml乙醇中,并将其滴加至氯化锌-乙醇的混合溶液中,反应3h;

(c)将所得到的的产物离心、分离、洗涤,得到白色膏状物。

7.根据权利要求6所述的复合阻变存储器件的制备方法,其特征在于:所述的滴加速率为25滴/min。

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