[发明专利]一种复合阻变存储器件及其制备方法在审
申请号: | 201410810234.2 | 申请日: | 2014-12-20 |
公开(公告)号: | CN105762276A | 公开(公告)日: | 2016-07-13 |
发明(设计)人: | 王丽丽 | 申请(专利权)人: | 天津市龙旺诚数码喷绘有限公司 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 | 代理人: | 韩敏 |
地址: | 300304 天津市东丽区华*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 复合 存储 器件 及其 制备 方法 | ||
1.一种复合阻变存储器件,其特征在于:包括ITO导电玻璃、第一聚合物层、第二聚合物层,所述的第一聚合物层和第二聚合物层之间设有纳米ZnXO1-X层,所述的第一聚合物层设置在ITO导电玻璃上,所述的第二聚合物层上设有电极,所述的电极与纳米ZnXO1-X绝缘形成。
2.根据权利要求1所述的复合阻变存储器件,其特征在于:所述的聚合物层为PVP聚合物层。
3.一种复合阻变存储器件的制备方法,其特征在于:包括以下步骤:
(1)用ITO导电玻璃作为复合阻变存储器件的基底,将ITO玻璃在酸溶液下腐蚀,然后依次用清洗剂、去离子水、丙酮和异丙醇溶液在超声清洗机中清洗;
(2)用匀胶机依次在ITO导电玻璃上旋涂PVP-甲醇溶液、纳米ZnXO1-X甲醇溶液、PVP-甲醇溶液,并干燥,匀胶机转速分别为2000rpm、400rpm、2000rpm;
(3)通过热蒸发法在第二聚合物层上形成铝电极,该铝电极厚度为150-300nm。
4.根据权利要求3所述的复合阻变存储器件的制备方法,其特征在于:所述的聚合物层为PVP聚合物层。
5.根据权利要求3所述的复合阻变存储器件的制备方法,其特征在于:所述的ZnXO1-X厚度为5-15nm。
6.根据权利要求3所述的复合阻变存储器件的制备方法,其特征在于:所述的ZnXO1-X的制备方法如下:
(a)将3g氯化锌溶于100ml乙醇中,混合后,转移到恒温800℃的水浴锅中水浴搅拌;
(b)称取1g氢氧化钠溶于100ml乙醇中,并将其滴加至氯化锌-乙醇的混合溶液中,反应3h;
(c)将所得到的的产物离心、分离、洗涤,得到白色膏状物。
7.根据权利要求6所述的复合阻变存储器件的制备方法,其特征在于:所述的滴加速率为25滴/min。
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