[发明专利]基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统

权利要求书

1.一种基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统，其特征在于，包括宽带光源、光纤耦合器、参考臂、样品臂和探测臂，所述的样品臂包括光纤探头和扫描装置，所述的探测臂包括计算机和光谱探测器，所述的宽带光源发出的光经光纤耦合器分光后，分别进入参考臂和样品臂，所述的参考臂反射后的参考光按照原光路返回到光纤耦合器，同时所述的样品臂的光通过光纤探头形成光子纳米喷射照明场，照明区域内经样品反射或后向散射的信号光再次通过光纤探头返回到光纤耦合器。

样品臂返回的信号光与参考臂返回的参考光汇合并发生干涉，通过探测臂的光谱探测器获得与样品信息有关的干涉光谱；同时样品臂中扫描装置对样品进行扫描并将其扫描时序发送给探测臂中的计算机，探测臂在一个信息采集周期内对不同波长光的并行探测得到样品的深度信息，探测臂中计算机根据扫描时序和样品的深度信息重建出样品的二维图像。

2.根据权利要求1所述的一种基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统，其特征在于，所述的宽带光源发出的光为低相干光。

3.根据权利要求1所述的一种基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统，其特征在于，所述的光纤耦合器为2×2光纤耦合器。

4.根据权利要求1所述的一种基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统，其特征在于，所述的参考臂包括透镜或透镜组、以及平面反射镜，经光纤耦合器分路进入参考臂的光束通过透镜或透镜组照射平面反射镜，由平面反射镜反射的参考光束就按原路返回再次进入光纤耦合器。

5.根据权利要求1所述的一种基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统，其特征在于，所述的探测臂上设有用于干涉信号探测的CCD相机。

6.根据权利要求1所述的一种基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统，其特征在于，所述的光纤探头包括单模光纤和介质小球，该介质小球固定于单模光纤上。

7.根据权利要求6所述的一种基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统，其特征在于，所述的单模光纤与介质小球接触面呈曲面设置。

8.根据权利要求6所述的一种基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统，其特征在于，所述的介质小球通过胶合方式固定于单模光纤的端面上。

9.根据权利要求1所述的一种基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统，其特征在于，所述的探测臂中计算机根据扫描时序和样品的深度信息重建出样品的二维图像具体如下：

首先，利用傅里叶变换处理一个采样周期内获取的干涉光谱信息，获得一次测量对应的空间深度信息；

然后，利用反卷积算法处理空间深度信息，使横向分辨率在测量深度内保持一致；

最后，根据扫描的时序和方式，依次重构出被检测范围内纵切面的二维图像。