[发明专利]一种含高体积分数SiC的金属基复合电子封装件的制备方法有效
申请号: | 201410816993.X | 申请日: | 2014-12-24 |
公开(公告)号: | CN104658917A | 公开(公告)日: | 2015-05-27 |
发明(设计)人: | 李红英;欧阳勋;赖永秋 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;B22F3/105;B33Y10/00;B33Y70/00 |
代理公司: | 长沙市融智专利事务所 43114 | 代理人: | 颜勇 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 体积 分数 sic 金属 复合 电子 封装 制备 方法 | ||
1.一种含高体积分数SiC的金属基复合电子封装件的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一
按质量比,粘接剂:SiC颗粒=1:3-5,配取粘接剂和SiC颗粒并混合均匀,得到SiC预制体备用料;所述SiC颗粒的粒径≤160μm;
步骤二
将步骤一所得SiC预制体备用料,装入3D打印设备中,通过3D打印,得到设定形状、尺寸的SiC坯体;
步骤三
将步骤二所得SiC坯体进行低温多段烧结,得到SiC多孔预制体;所述低温多段烧结的工艺参数为:先升温至220-280℃,保温1-2h后再升温至380-420℃,保温1-2h,然后再继续升温至480-520℃,保温1-2h,随炉冷却至室温;
步骤四
对步骤三所得SiC多孔预制体进行金属熔液浸渗处理,得到成品。
2.根据权利要求1所述的一种含高体积分数SiC的金属基复合电子封装件的制备方法,其特征在于:步骤一中所述SiC颗粒由粒径为5~15μm的SiC颗粒、55~85μm的SiC颗粒、140~160μm的SiC颗粒按质量比,5~15μm的SiC颗粒:55~85μm的SiC颗粒:140~160μm的SiC颗粒=1:1.5~2.5:8~10组成。
3.根据权利要求1所述的一种含高体积分数SiC的金属基复合电子封装件的制备方法,其特征在于:步骤一中所述粘结剂为尼龙粉末、石蜡、有机硅树脂中的至少一种。
4.根据权利要求3所述的一种含高体积分数SiC的金属基复合电子封装件的制备方法,其特征在于:所述尼龙粉末的粒径为25-75μm。
5.根据权利要求1所述的一种含高体积分数SiC的金属基复合电子封装件的制备方法,其特征在于:步骤二中,所述3D打印的控制激光功率为20~200w,切片厚度为0.08mm~0.15mm,送料方式为单缸下送粉、双向铺粉方式,激光扫描速率为50-100mm/s。
6.根据权利要求1所述的一种含高体积分数SiC的金属基复合电子封装件的制备方法,其特征在于:步骤三中,从室温加热至220-280℃时,控制升温速率为3-5℃/min;从220-280℃升温至380-420℃时,控制升温速率为1-3℃/min;从380-420℃升温至480-520℃时,控制升温速率为1.5-2℃/min。
7.根据权利要求1所述的一种含高体积分数SiC的金属基复合电子封装件的制备方法,其特征在于:步骤三所得SiC多孔预制体的SiC体积分数为60%~75%。
8.根据权利要求1所述的一种含高体积分数SiC的金属基复合电子封装件的制备方法,其特征在于:步骤四中,进行金属合金熔液浸渗处理方式选自无压浸渗、气压浸渗、真空浸渗中的一种。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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