[发明专利]立体反光测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 201410817240.0 申请日: 2014-12-22
公开(公告)号: CN104597450A 公开(公告)日: 2015-05-06
发明(设计)人: 黎奎奎;吴玲怡;陆春;王伟良;邢俊;杨申贤;严佳庆;季立群;何冈;陆健航 申请(专利权)人: 上海建工集团股份有限公司;上海市机械施工集团有限公司;上海机场(集团)有限公司;上海国际机场股份有限公司
主分类号: G01S17/06 分类号: G01S17/06;G01B11/16
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地址: 200120 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 立体 反光 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种立体反光测量装置,其特征在于,包括一个正棱锥体,所述正棱锥体的底面上设有粘结层,其余各面上分别设有反光材料层形成反射面,在各所述反射面上分别标记各反射面中心,所述粘结层上设有保护膜。

2.如权利要求1所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述正棱锥体为正四面体或者正四棱锥或者正五棱锥。

3.如权利要求1所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述正棱锥体为空心的或者实心的。

4.如权利要求3所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述正棱锥体为空心的,厚度为2-4毫米。

5.如权利要求1所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述正棱锥体采用塑料。

6.如权利要求5所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述塑料是指PET、PP、PS或者PC材料。

7.如权利要求1所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述反光材料层采用PVC反光材料,所述粘结层为胶水层。

8.如权利要求1所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述其余各面上分别设有三条角平分线,所述三条角平分线的交点为各反射面中心。

9.如权利要求1-8中任意一项所述的立体反光测量装置,其特征在于,还包括全站仪,所述全站仪能够选定瞄准所述正棱锥体的其中一个反射面中心,向该反射面中心发射激光并接收被该反射面反射回来的激光,以测量该反射面中心的三维坐标。

10.一种反光测量方法,其特征在于,采用如权利要求1-9中任意一项所述的立体反光测量装置,包括如下步骤:

第一步,撕开正棱锥体的底面上保护膜,通过所述粘结层将所述正棱锥体粘贴于被测物体上;

第二步,根据全站仪与所述正棱锥体的位置关系,选择测量角度合适的反射面,瞄准该反射面中心,向该反射面中心发射激光并接收被该反射面反射回来的激光,以测量该反射面中心的三维坐标。

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