[发明专利]立体反光测量装置及方法在审
申请号: | 201410817240.0 | 申请日: | 2014-12-22 |
公开(公告)号: | CN104597450A | 公开(公告)日: | 2015-05-06 |
发明(设计)人: | 黎奎奎;吴玲怡;陆春;王伟良;邢俊;杨申贤;严佳庆;季立群;何冈;陆健航 | 申请(专利权)人: | 上海建工集团股份有限公司;上海市机械施工集团有限公司;上海机场(集团)有限公司;上海国际机场股份有限公司 |
主分类号: | G01S17/06 | 分类号: | G01S17/06;G01B11/16 |
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地址: | 200120 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 立体 反光 测量 装置 方法 | ||
1.一种立体反光测量装置,其特征在于,包括一个正棱锥体,所述正棱锥体的底面上设有粘结层,其余各面上分别设有反光材料层形成反射面,在各所述反射面上分别标记各反射面中心,所述粘结层上设有保护膜。
2.如权利要求1所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述正棱锥体为正四面体或者正四棱锥或者正五棱锥。
3.如权利要求1所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述正棱锥体为空心的或者实心的。
4.如权利要求3所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述正棱锥体为空心的,厚度为2-4毫米。
5.如权利要求1所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述正棱锥体采用塑料。
6.如权利要求5所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述塑料是指PET、PP、PS或者PC材料。
7.如权利要求1所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述反光材料层采用PVC反光材料,所述粘结层为胶水层。
8.如权利要求1所述的立体反光测量装置,其特征在于,所述其余各面上分别设有三条角平分线,所述三条角平分线的交点为各反射面中心。
9.如权利要求1-8中任意一项所述的立体反光测量装置,其特征在于,还包括全站仪,所述全站仪能够选定瞄准所述正棱锥体的其中一个反射面中心,向该反射面中心发射激光并接收被该反射面反射回来的激光,以测量该反射面中心的三维坐标。
10.一种反光测量方法,其特征在于,采用如权利要求1-9中任意一项所述的立体反光测量装置,包括如下步骤:
第一步,撕开正棱锥体的底面上保护膜,通过所述粘结层将所述正棱锥体粘贴于被测物体上;
第二步,根据全站仪与所述正棱锥体的位置关系,选择测量角度合适的反射面,瞄准该反射面中心,向该反射面中心发射激光并接收被该反射面反射回来的激光,以测量该反射面中心的三维坐标。
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