[发明专利]一种测试系统及使用其的显示装置

权利要求书

1.一种测试系统，用于对显示器进行测试，所述显示器包括驱动模块，其特征在于，所述测试系统包括：

微控制信号源，与第一电压源相连，以接收所述第一电压源输出的第一参考电压，所述微控制信号源用于输出电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号；及

现场可编程门阵列，所述现场可编程门阵列包括：

第一电源引脚，接收所述第一参考电压；

第一接口模块，与所述微控制信号源及所述第一电压源引脚相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号，并将该微控制信号输出至存储控制单元；

第二电源引脚，与第二电压源连通，以接收所述第二电压源输出的第二参考电压；

存储控制单元，与所述第一接口模块相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号，并将通过所述第一接口模块接收的微控制信号的电压值由所述第一参考电压转换为所述第二参考电压；及

第二接口模块，与所述存储控制单元、所述第二电源引脚及所述驱动模块相连，用于输出所述电压值与所述第二参考电压相同的微控制信号至所述驱动模块。

其中，所述第一参考电压大于所述第二参考电压。

2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述现场可编程门阵列的存储控制单元包括：

可编程模块，用于输出第一编程信号；

输入输出模块，包括输入端、控制端及输出端，所述输入输出模块的输入端与所述第一接口模块相连，所述控制端与所述可编程模块相连，所述输入输出模块的输出端与所述第二接口模块相连，所述输入输出模块用于将所述微控制信号的电压值由所述第一参考电压转换为所述第二参考电压。

3.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述驱动模块包括：

微控制接口，用于接收由所述第二接口模块输出的所述微控制信号。

4.一种测试系统，用于对显示器进行测试，所述显示器包括驱动模块，其特征在于，所述测试系统包括：

微控制信号源，与第一电压源相连，以接收所述第一电压源输出的第一参考电压，所述微控制信号源用于输出电压值与所述第一参考电压相同的初始化信号；及

现场可编程门阵列，所述现场可编程门阵列包括：

第一电源引脚，接收所述第一参考电压；

第一接口模块，与所述微控制信号源及所述第一电压源引脚相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的初始化信号，并将该初始化信号输出至存储控制单元；

第二电源引脚，与第二电压源连通，以接收所述第二电压源输出的第二参考电压；

存储控制单元，与所述第一接口模块相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的初始化信号，并将通过所述第一接口模块接收的所述初始化信号传输至所述第二接口模块；及

第二接口模块，与所述存储控制单元、所述第二电源引脚及所述驱动模块相连，用于输出所述电压值与所述第二参考电压相同的初始化信号至所述驱动模块。

5.如权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述现场可编程门阵列的存储控制单元包括：

可编程模块，用于输出第二编程信号；

输入输出模块，包括输入端、控制端及输出端，所述输入输出模块的输入端与所述第一接口模块相连，所述控制端与所述可编程模块相连，所述输入输出模块的输出端与所述第二接口模块相连，所述输入输出模块用于将通过所述第一接口模块接收的所述初始化信号传输至所述第二接口模块。

6.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述现场可编程门阵列的第二电源引脚接收的所述第二参考电压与所述第一参考电压的电压值相同。

7.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述现场可编程门阵列的存储控制单元还包括：

逻辑模块，与所述可编程模块相连，用于在接收到所述第二编程信号后，输出逻辑信号至所述第二接口模块。

8.如权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述驱动模块包括：

逻辑接口，用于接收所述逻辑模块输出的逻辑信号。

9.如权利要求8所述的测试系统，其特征在于，所述驱动模块还包括：

初始化接口，用于接收由所述第二接口模块输出的所述初始化信号。

10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1至9任意一项所述的测试系统。