[发明专利]用于激光器寿命试验仪器的嵌入式总体控制系统

说明书

技术领域

本发明涉及网络开发技术领域，特别是涉及一种网站前端开发方法与系统。

背景技术

随着半导体激光器在光通信、信息存储、医疗、光传感以及泵浦固体激光器和光纤放大器等领域的广泛应用，大量新产品的推出，半导体激光器的可靠性问题逐渐暴露出来。从经济上看，一个器件的失效，往往影响到整个设备或系统，导致巨额损失。从安全上考虑，如果飞机或航天飞船发生通信故障，将会造成无法估量的重大损失。从通信阻断、顾客不满，信誉损失直到严重损害国家安全，也都可能是由器件的不可靠引起的。因此研究半导体激光器的可靠性是十分迫切、现实和必要的。

寿命是半导体激光器可靠性考核过程中最重要的一个指标，近年来成为半导体激光器领域的一个研究热点。特别是对大功率半导体激光器寿命试验装置的研制，越来越受到大功率半导体激光器研制单位和应用单位的重视，已经有商品化的设备面世。随着半导体工艺的进步，大功率半导体激光器的寿命越来越长，开展大功率半导体激光器寿命评价，往往耗时较长，如何在长时间试验过程中完整的记录器件输出参数随时间的退化信息对准确评价激光器的寿命至关重要，此外寿命试验过程中的一些热学、电学参数的实时记录也会对寿命评价形成重要的支撑，因此半导体激光器寿命试验装置的总体控制模块是一个非常重要的部件，通过总体控制软件在保证整个寿命试验装置协调运转的同时，也能够实时监测寿命试验过程中的各种参数信息。

中国电子科技集团公司第十三研究所报道了一种连续半导体激光单条阵列老化筛选试验系统(任永学，邓海丽等，连续半导体激光器单条阵列老化筛选系统，加工、测量与设备，2011.7)，该试验系统基于LabView环境下开发了激光功率采集软件，通过软件实现对数据采集卡的控制，完成对激光功率数据的实时检测，自动进行数据的读取、存储以及绘制P-t(输出功率-时间)曲线。该试验系统提出了寿命试验过程中激光器输出功率随时间变化信息的自动检测方案，但寿命试验过程中有关器件热学参数以及相关电学参数没有实现实时检测，寿命试验过程自动记录信息不全面，不利于后续寿命评价工作的开展。此外，该系统采用基于计算机操作系统的控制方法采集寿命试验过程相关信息，相对于嵌入式控制系统，程序开发代码规模大，操作性差、自动化程度低。

中国地质大学报道了一种半导体激光器寿命测试系统(徐小红，半导体激光器寿命试验系统研制，中国地质大学硕士学位论文，2005)，该寿命试验系统基于windows 2000平台，利用VB语言编制了计算机控制软件，实现了对试验参数的自动设置以及敏感参数数据的自动采集与处理。该系统同样采用基于计算机操作系统的控制方法设置和采集寿命试验过程相关信息，相对于嵌入式控制系统，同样存在程序开发代码规模大，操作性差等不足。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明提供一种操作方便、简单、图形界面友好并能提供网络访问功能的嵌入式的激光器寿命试验仪器总体控制系统，采用的方案如下。

一种用于激光器寿命试验仪器的嵌入式总体控制系统，包括人机界面模块、环境控制模块、集成控制模块和通讯模块；

所述人机界面模块连接所述通讯模块，用于展示功能菜单以便用户对激光器寿命试验仪器的环境试验箱、驱动电源、水冷机、参数检测模块和保护电路模块进行初始设置和运行监控，以及对激光器寿命试验中的参数采集与显示、异常报警过程进行设置和监控；

所述环境控制模块为内置汇编语言编辑的控制程序的可编程控制器模块，用于对激光器寿命试验仪器的环境试验箱的环境温湿度进行设置和监控，并通过所述通讯模块与所述集成控制模块进行数据交换；

所述集成控制模块为内置汇编语言编辑的控制程序的可编程控制器模块，用于通过总线与激光器寿命试验仪器的驱动电源、水冷机、参数检测模块和保护电路模块的控制器互联，所述集成控制模块作为主机，总线上其它控制器为丛机。

本发明用于激光器寿命试验仪器的嵌入式总体控制系统，在不需要提供计算机操作系统的情况下，通过汇编语言及集成PLC模块对激光器寿命试验仪器各关键部位实施控制，实现了对寿命试验初始参数的自动设置、试验异常情况的自动保护、敏感参数的自动监测、采集等功能。总之，本系统功能完备、操作简单、界面友好，性价比高，在工业控制领域中具有很高的使用价值。

附图说明

图1为本发明用于激光器寿命试验仪器的嵌入式总体控制系统整体示意图；

图2为集成控制模块组成示意图；

图3为本发明用于激光器寿命试验仪器的嵌入式总体控制系统的人机界面的功能界面示意图；