[发明专利]一种COB光组件光色空间分布测试方法及设备

说明书

本发明公开了一种LED的光色空间分布测试方法及设备，包括测试平台、测试探头结构、摇臂机构、机架和控制系统，以测试平台的中心点作为坐标原点建立虚拟的垂直平面坐标轴，水平轴为γ轴，垂直轴为C轴，所述测试平台安装在机架上，所述测试探头结构安装在摇臂机构上，所述摇臂机构安装在机架上，所述测试探头结构上的探头对准测试平台上的LED元件的中心点，所述控制系统用于控制所述摇臂机构绕γ轴旋转，以及控制测试平台以C轴为自转中心自转。采用本发明可自动对LED器件的整个发光面进行光色度数据采集，结构简单、成本低、测试效率高、可测试大功率LED、通用性好。

技术领域

本发明涉及LED发光元件检测领域，尤其涉及的是一种COB光组件光色空间分布测试方法及设备。

背景技术

随着LED技术的发展，LED灯具逐渐代替传统灯泡，尤其是白光LED成为未来通用照明的主流光源。目前商业化生产的白光LED，除部分加入红色或绿色荧光粉外，一般采用蓝光LED芯片加黄色荧光粉制成。由于LED芯片光强分布的不均匀，以及LED器件封装中荧光粉涂覆的不一致，导致目前白光LED器件在光的空间分布上的存在不均匀性。而光色空间分布的不均匀性是评价白光LED器件质量的一个十分重要的指标。

目前LED产业界的测试仪器绝大多数针对LED灯具或LED光源的分布光度计，针对LED元器件的光色空间分布测试仪器还是近似空白，这对评价白光LED器件质量指标很困难，不利于及时发现产品质量问题，行业内亟待解决这个问题。

另外，在测试大功率LED器件时，主要针对COB光组件，COB是LED的一种封装方式，当然也可以对其他封装方式的LED进行测试，由于大功率LED的发热量很高，测试过程中若不能及时将LED产生的热量散走，LED的温度必然会不断升高，从而影响测试条件的一致性，导致测量结果的准确性和可靠性降低。因此，在测试过程LED的散热和温控也是必须解决的问题。因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

本发明的目的在于提供一种LED的光色空间分布测试方法及设备，只在解决现在行业中没有白光LED光色空间分布测试的设备的问题以及解决LED测试过程中的散热温控问题。

本发明的技术方案如下：

一种LED的光色空间分布测试方法，其包括以下步骤：

步骤S1：将待测的LED发光元件置于样品台上，并进行定位，调整两根测试探针的长度和角度使探针的末端正好分别压在LED的两极上；

步骤S2：设定所要测试的角度范围，包括垂直设置的C转轴，即测试平台旋转的主轴，以及水平设置的γ转轴，即摇臂、测试探头结构的转轴；C转轴可带LED在-180°至180°的角度范围内旋转，γ转轴可从-90°至90°的角度范围内旋转，γ转轴所在的轴心线与C转轴所在的轴心线垂直相交，交点与待测LED器件的发光部的中心点重合；

步骤S3：调整摇臂的高度，使之到达目标测试距离；

步骤S4：用遮光罩将测试整机罩住，隔绝外部光线，消除外部光线的干涉；

步骤S5：将光纤探头收集的光信号输送送至光谱仪，将光谱仪与外部计算机相连，对待测LED元件通电进行测试，将所测的光谱数据在计算机中进行处理，并通过计算机将测试结果以图形、表格或文字的方式输出。

一种LED的光色空间分布测试设备，其包括测试平台、测试探头结构、摇臂机构、机架和控制系统，以测试平台的中心点作为坐标原点建立虚拟的垂直平面坐标轴，水平轴为γ轴，垂直轴为C轴，所述测试平台安装在机架上，所述测试探头结构安装在摇臂机构上，所述摇臂机构安装在机架上，所述测试探头结构上的探头对准测试平台上的LED元件的中心点，所述控制系统用于控制所述摇臂机构绕γ轴旋转，以及控制测试平台以C轴为自转中心自转。