[发明专利]通过单片机系统的定时器中断实现采样率设置的方法在审
申请号: | 201410828512.7 | 申请日: | 2014-12-25 |
公开(公告)号: | CN104460470A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 朱炬;王传才;毛翌春;朱文星;韩国华 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042 |
代理公司: | 蚌埠鼎力专利商标事务所有限公司 34102 | 代理人: | 张建宏 |
地址: | 233006 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 通过 单片机 系统 定时器 中断 实现 采样率 设置 方法 | ||
1.通过单片机系统的定时器中断实现采样率设置的方法,包括以下步骤:
选用ADuC841单片机系统,该系统外接有提供工作频率的外部晶体,外部晶体频率为11.0592MHz,通过ADuC841单片机系统内部的定时器T0或定时器T2进行采样率设置;
在通过定时器T0或定时器T2进行采样率设置时,定时器T0或定时器T2的工作方式均选用方式1,通过对定时器T0或定时器T2的计数寄存器TH、TL设定计数初值来选择定时采样频率,计数寄存器TH、TL设定好计数初值后,即可在定时器T0或定时器T2中断产生时启动采样程序,以达到设置采样率的目的;
定义计数初值为LH,LH的具体算法如下:
T=1/fosc;
N=1/(F*T);
LH=10000H-MH;
所述fosc为外部晶体频率、T为单片机系统的机器周期、F为所需定时采样频率、N为定时器的计数值,M为将N转换为十六进制后的值;
对于定时器T0,在设定计数初值时需对计数初值LH减去软件装载时间A,A=Δt*106,Δt为示波器上读取的实际定时采样频率与所需定时采样频率之间的时间差距,单位为秒。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410828512.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种纺织多品种纱线的控制方法
- 下一篇:一种CAN隔离电路