[发明专利]固态硬盘的备电检测方法、装置和系统

说明书

技术领域

本发明实施例涉及存储技术领域，尤其涉及一种固态硬盘的备电检测方法、装置和系统。

背景技术

CPU、内存、硬盘作为计算机系统中的三大件，CPU和内存处理性能随着技术发展迅速提高，而传统的机械硬盘由于其机械部分的限制，性能提高缓慢，成为了系统性能的瓶颈。外置存储系统也面临同样的问题，使用机械硬盘的存储系统虽然可以提供较高的性能，但是对于性能要求较高的应用，仍然无法满足要求。而固态硬盘(英文：Solid State Drives，简称：SSD)作为新兴的存储介质，由于其性能高的特点逐步取代了传统机械硬盘成为了高性能应用的首选。

但是，SSD有其自身的缺点，SSD为了提高性能，内部设计了大容量的缓存，而掉电后缓存内的数据会丢失，为了解决这个问题，SSD内部设计了备电。现在主流的备电采用超级电容备电方式，但是超级电容故障率高。

为了检测超级电容故障，SSD自身会定期通过放电测试进行电量检测，尤其是做精确电量检测时，由于放电过多，剩余电量无法保证数据可靠性，必须将SSD设置为透写，即将SSD的写缓存(cache)禁用(disable)，这样会导致SSD性能严重降低。对于独立冗余磁盘阵列(英文：Redundant Arrays of Independent Disks，简称：RAID)组来说，这个盘就变成了“慢盘”，RAID组一般由多个SSD组成，若一个或者多个SSD变成“慢盘”，就会导致整个RAID组性能下降，严重的会导致业务中断。

发明内容

本发明实施例提供一种固态硬盘的备电检测方法、装置和系统，能够在保证性能和数据安全性的情况下实现备电检测。

第一方面，提供一种固态硬盘的备电检测方法，应用于存储系统，所述存储系统包括N个RAID组，N为正整数，所述方法包括：

获取所述N个RAID组的配置信息和所述N个RAID组的状态，所述N个RAID组中的每个RAID组的配置信息包括该RAID组的SSD数量和冗余度，每个RAID组的状态包括正常状态、降级状态和失效状态中的一种；

在所述N个RAID组中确定状态为正常状态的M个RAID组；

根据所述M个RAID组的配置信息控制所述M个RAID组同时进行放电测试，其中所述M个RAID组中的每个RAID组进行放电测试时，该RAID组中同时进行放电测试的SSD的数量小于或等于该RAID组的冗余度。

结合第一方面，在第一种可能的实现方式中，所述根据所述M个RAID组的配置信息控制所述M个RAID组同时进行放电测试，其中所述M个RAID组中的每个RAID组进行放电测试时，该RAID组中同时进行放电测试的SSD的数量小于或等于该RAID组的冗余度包括：

在所述M个RAID组中，根据每个RAID组中的每个SSD的放电测试周期获取该RAID组的SSD放电测试顺序，所述SSD放电测试顺序用于指示每个RAID组中的每个SSD在该RAID组中的放电测试顺序；

按照每个RAID组的SSD放电测试顺序指示每个RAID组中的每个SSD进行放电测试，其中每个RAID组进行放电测试时该RAID组中同时进行放电测试的SSD的数量小于或等于该RAID组的冗余度。

结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中，所述M个RAID组中的每个RAID组进行放电测试时，该RAID组中进行放电测试的SSD保持回写状态。

结合第一方面的第二种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中，所述方法还包括：

在第一RAID组中的第一SSD进行放电测试时，若检测到所述第一SSD失效，则通过所述第一RAID组中其他的正常SSD对所述第一SSD的所述数据进行重构；所述第一RAID组为所述M个RAID组中的任一个RAID组，所述第一SSD为所述第一RAID组中的任一个SSD。

结合第一方面的第三种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，所述第一SSD失效包括所述第一SSD掉电，或者所述第一SSD被拔出；所述第一RAID组中其他的正常SSD包括：所述第一RAID组中除所述第一SSD外当前未进行放电测试的SSD。

结合第一方面的第三或第四种可能的实现方式，在第五种可能的实现方式中，通过所述第一RAID组中其他的正常SSD对所述第一SSD的所有数据进行重构包括：

通过所述第一RAID组中其他的正常SSD对所述第一SSD的内存和存储介质中的总数据进行重构。