[发明专利]X射线装置有效
| 申请号： | 201410833194.3 | 申请日： | 2014-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN104777179B | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | D·贝克尔斯;S·普鲁戈维奇 | 申请（专利权）人： | 马尔文帕纳科公司 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 吴信刚 |
| 地址： | 荷兰阿*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 射线 装置 | ||
1.一种X射线衍射装置，包括：
具有焦点的X射线源；
样本台；
焦点与样本台之间的平坦分级多层结构，用于将X射线从焦点引导到样本台上；以及
X射线检测器，用于检测来自安装在样本台上的样本的X射线；
还包括位于X射线源与样本台之间的准直器，其中准直器能够调节为用于Bragg-Brentano几何结构测量的大有效孔径和用于SAXS测量的窄有效孔径，其中所述大有效孔径至少为0.1°并且所述窄有效孔径不大于0.07°。
2.根据权利要求1的X射线衍射装置，其中所述窄有效孔径不大于0.05°。
3.根据权利要求1的X射线衍射装置，其中准直器位于平坦分级多层结构与样本台之间。
4.根据权利要求1的X射线衍射装置，其中准直器位于X射线源与平坦分级多层结构之间。
5.根据权利要求1的X射线衍射装置，其中准直器具有可变宽度的缝隙孔径。
6.根据权利要求1的X射线衍射装置，其中准直器是具有可变宽度和/或高度的孔径的二维准直器。
7.根据权利要求1的X射线衍射装置，还包括布置在平坦分级多层结构与样本台之间的另外的平坦的、抛物线、椭圆或双曲线形状的多层结构。
8.根据权利要求1的X射线衍射装置，其中X射线检测器是位置敏感检测器。
9.一种操作X射线衍射装置的方法，该装置包括：具有焦点的X射线源；样本台；焦点与样本台之间的平坦分级多层结构，用于将X射线从焦点引导到样本台上；X射线检测器，用于检测来自安装在样本台上的样本的X射线；以及位于X射线源与样本台之间的准直器，其中准直器能够调节为用于Bragg-Brentano几何结构测量的大有效孔径和用于小角度X射线散射SAXS测量的窄有效孔径，其中所述大有效孔径至少为0.1°并且所述窄有效孔径不大于0.07°，该方法包括：
调节准直器到宽有效孔径并且以Bragg-Brentano几何结构执行测量；以及
调节准直器到窄有效孔径并且执行SAXS测量。
10.根据权利要求9的方法，还包括利用窄有效孔径执行反射法测量。
11.根据权利要求9的方法，还包括利用二维窄有效孔径执行微斑点分析测量。
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