[发明专利]一种多天线测试系统校准方法和设备

说明书

技术领域

本申请实施例涉及通信技术领域，特别涉及一种多天线测试系统校准方法。本申请实施例同时还涉及一种校准设备。

背景技术

移动通信实验室内多天线测试系统配置由基站以及核心网、无线信道仿真仪(如图1所示，以C8为例，C8是8输入8输出信道模拟器)、终端、和射频线缆、衰减器以及环形器等连接器件组成。

在现有技术中使用的仪表为矢量网络分析仪，其功能是测量两端口网络的各种参数幅值和相位，属于射频领域的通用仪表，有两个接口Port1和Port2。

目前使用矢量网络分析仪校准方法如下：

以UE1的校准为例，首先进行C8上行相位校准，将UE Ant接Port1口，信号RF接Port2口，其中具体步骤如下：

⑴UE1上行信号线UE1Ant1连接至矢网仪的port1；

⑵上行至耦合器的信号线RF1连接至矢网仪的port2；

⑶设置矢网仪的中心频点，测量带宽，发射S21信号，进行相位测量；

⑷设置矢网仪port1的发射功率，(此功率根据各个厂家使用不同的上行衰减器进行调节，使得上行C8实际输入功率小于-10dbm)；

⑸进行系统时延补偿(ElectricalDelay)操作，保存当前通路的相位值，选择“Data&Mem”使Data和Mem同时显示出来；

⑹关闭矢网仪的射频，并连接第二路上行信号线RF2至矢网仪的port2；

⑺调整上行C8输出端口的相位补偿，观察失网相位的变化，使第二路与第一路的相位差趋紧于0；

⑻经过调整后使第二路和第一路接近一致，对其他信号线缆重复步骤6-7直至上行RF8校准完成；

⑼如果上行对UE1有Ant2或有UE2，关闭矢网仪射频，再将第一路上行信号线Ant1连接至矢网仪的port2，并连接UE1的第二路信号线Ant2或UE2的Ant至矢网仪的port1；；

⑽调整上行C8所对应UE1Ant2的输出端口进行相位补偿调整，使之与第一路对齐；

⑾重复步骤9-10，直至所有UE Ant校准完成，关闭矢网仪射频，上行线路相位校准完成。

在完成C8上行相位校准之后进行C8下行相位校准，而C8下行相位校准与上行校准类似，只是将信号Ant接Port1口，UE Ant接Port2口，校准步骤同上行校准。

以上完成UE1的校准；UE2的校准与UE1的校准类似，不再赘述。

然而在现有技术中进行校准时，面临以下问题：由于反复更换射频线缆的连接，造成操作多校准效率低的缺陷，另外校准要人手动调整，边调整边观察；而人为判断结果精度低；校准过程线缆被断开，校准之后再连接回系统，这个过程会造成连接松紧程度变化，也会造成系统误差加大。

发明内容

本发明的目的在于提供一种多天线测试系统校准方法和设备，用以提高校准的精度。

为此，本发明提供了一种多天线测试系统校准方法，所述多天线测试系统中的基站的RRU的校准口与所述多天线测试系统中用于连接待校准的终端UE的射频线相连，所述方法包括：

获取从各下行射频通道传递到所述校准口后校准序列信号的下行信道参数改变信息，以及获取从所述校准口传递到各上行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，所述下行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从各下行射频通道传递到所述校准口所产生的相位和时延，所述上行信道参数改变信息包括所述校准序列信号从所述校准口传递到各上行射频通道所产生的相位和时延，所述校准序列信号为ZC序列；

基于所述下行信道参数改变信息对所述各下行射频通道进行校准；以及基于所述上行信道参数改变信息对所述各上行射频通道进行校准。

优选的，所述获取从各下行射频通道传递到所述校准口后的校准序列信号的下行信道参数改变信息，具体为：

将所述各下行射频通道的状态设置为发送状态，以及将所述校准口的状态设置为接收状态；

通过所述各下行射频通道发送所述校准序列信号，并通过所述校准口接收所述各下行射频通道发送的校准序列信号；

基于所述校准口接收的各校准序列信号与所述校准序列信号进行计算所得到的相位以及时延作为所述下行信道参数改变信息。

优选的，所述获取从所述校准口传递到所述各上行射频通道后校准序列信号的上行信道参数改变信息，具体为：

将所述各上行射频通道的状态设置为接收状态，以及将所述校准口的状态设置为发送状态；