[发明专利]一种AOI光学检测设备在审
申请号: | 201410839397.3 | 申请日: | 2014-12-30 |
公开(公告)号: | CN104568985A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 王庆富 | 申请(专利权)人: | 东莞市合易自动化科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/956 | 分类号: | G01N21/956 |
代理公司: | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人: | 李玉平 |
地址: | 523000 广东省东莞市横沥*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 aoi 光学 检测 设备 | ||
技术领域
本发明涉及PCB板制作技术领域,具体的说,涉及一种AOI光学检测设备。
背景技术
随着社会的发展,电子产品越来越多,电子产品与我们的日常生活息息相关,电子产品中的PCB板在生产过程中,电子元件的插接焊接过程中,一般会出现不良品焊点,因此需要对PCB板进行检测,对不良品的焊点进行再次加工,以提高良品率,目前,很多的厂家采用AOI装置对PCB板进行检测,如果发现有坏的焊点,则对有坏的焊点PCB板进行标记,然后再由人工进行修复;由于PCB板的焊接工艺要求较高,采用人工修复,质量难以保证,且效率较低。
发明内容
本发明的目的在于解决现有技术的不足,提供一种能够对不良焊点能够精确定位的AOI光学检测设备。
为实现上述目的而采用的技术方案为:
一种AOI光学检测设备,包括:
图像采集模块,用于对PCB板进行拍照,获取PCB板的表面图像;
坐标分析模块,对获取的表面图像进行坐标划分;
图像分析模块,对表面图像进行分析,找出PCB板上不良焊点以及不良焊点所对应的坐标区域,
存储模块,对表面图像信息、图像坐标信息以及不良焊点的坐标信息进行对应存储;
信号发射模块,将PCB板的表面图像信息、图像坐标信息以及不良焊点的坐标信息向外发射;
处理器,处理器分别与图像采集模块、坐标分析模块、图像分析模块、存储模块以及信号发射模块信号连接。
本技术方案工作时,图像采集模块先采集一块良品PCB板图像作为对比基础图片;然后图像采集模块分别采集要修正的PCB板图像,并将该图像存储于存储模块内,处理器调取图像分析模块对采集的PCB板图像以及良品PCB板图像进行分析对比,并找出不良点;接着处理器调取坐标分析模块对PCB板图像进行划分坐标,分析出不良焊点对应的坐标;并将不良焊点的坐标信息存储于存储器。
图像采集模块相对PCB板进行图像采集,图像分析模块分析出表面的焊点;根据焊点的图像特征找出没锡、少锡、联锡等不良焊点,再结合坐标分析模块,对PCB板进行划分坐标,找出不良焊点的对应坐标区域;坐标区域可以是坐标点、一定封闭范围等;然后处理器将不良焊点的坐标信息存储于存储模块内,并通过信号发射模块对外发射,以便后续工艺的设备接收。
进一步地,还包括设备DPR,所述存储模块设有A文件和B文件,PCB板的不良焊点坐标信息以一定格式写入A文件,设备DPR按顺序读取A文件,并按记录加载文件开始工作,结束后按格式写入文件B。
进一步地,还包括设备DPS,设备DPS从B文件按顺序读取1行记录(先判断C文件已经写到的流水号),并按记录加载文件开始工作, 结束后按格式写入C文件。
本发明的有益效果为:本发明可对不良焊点进行准确定位,并按照搬运工时序控制方式的方式对外发送信号,节约人工成本,提高产品生产效率及其品质。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的说明。
实施例:
一种AOI光学检测设备,包括:
图像采集模块,用于对PCB板进行拍照,获取PCB板的表面图像;
坐标分析模块,对获取的表面图像进行坐标划分;
图像分析模块,对表面图像进行分析,找出PCB板上不良焊点以及不良焊点所对应的坐标区域,
存储模块,对表面图像信息、图像坐标信息以及不良焊点的坐标信息进行对应存储;
信号发射模块,将PCB板的表面图像信息、图像坐标信息以及不良焊点的坐标信息向外发射;
处理器,处理器分别与图像采集模块、坐标分析模块、图像分析模块、存储模块以及信号发射模块信号连接。
本技术方案工作时,图像采集模块相对PCB板进行图像采集,分析出表面的焊点,根据焊点的图像特征找出没锡、少锡、联锡等不良焊点,再结合坐标分析模块,对PCB板进行划分坐标,找出不良焊点的对应坐标区域;坐标区域可以是坐标点、一定封闭范围等;然后处理器将不良焊点的坐标信息存储于存储模块内,并通过信号发射模块对外发射,以便后续工艺的设备接收。
进一步地,还包括设备DPR,所述存储模块设有A文件和B文件,PCB板的图像信息以一定格式写入A文件,设备DPR按顺序读取A文件,并按记录加载文件开始工作,结束后按格式写入文件B;
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