[发明专利]一种利用荧光探针检测高放废液中Pd的方法有效
申请号: | 201410840665.3 | 申请日: | 2014-12-30 |
公开(公告)号: | CN104597010A | 公开(公告)日: | 2015-05-06 |
发明(设计)人: | 常志远;张兆清;白雪 | 申请(专利权)人: | 中国原子能科学研究院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102413 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 荧光 探针 检测 废液 pd 方法 | ||
技术领域
本发明属于Pd离子检测技术领域,具体涉及一种利用荧光探针检测高放废液中Pd的方法。
背景技术
乏燃料是贵金属元素Pd的一个重要来源,裂变过程中会形成其稳定同位素如104Pd(17%)、105Pd(29%)、106Pd(21%)、108Pd(12%)、110Pd(4%),以及放射性同位素107Pd(17%),它的半衰期为6.5×106年。钯是铂系金属的一种,据统计,截止2030年,由核裂变产生的铂系金属将达到2500~3000吨,届时,自然界中存在的铂系金属只剩约7000吨。随着工业的发展,金属钯的需求量日益增长,人们开始意识到从高放废液中回收金属钯的价值;另外,Pd的存在会影响高放废液的固化,所以检测乏燃料高放废液(高放射性废液)中Pd的含量迫在眉睫。
高放废液中Pd的检测方法有分光光度法、原子吸收光谱法、ICP-MS和电化学方法等,分光光度法操作简单、经济,但是灵敏度和精密度都不高;原子吸收光谱法是一种痕量分析技术,但是干扰因素比较多,例如光谱干扰、化学干扰等;ICP-MS检测Pd具有线性范围宽、精密度高、准确度高等优点,但其检测成本较高;电化学方法,诸如循环伏安法和溶出伏安法都应用于高放废液中Pd的检测,但检测速度较慢,重现性也不理想。
量子点是一种三维尺寸均限制在纳米尺度的半导体纳米晶,由于其尺寸小表现出特殊的量子限域效应、表面效应、介电限域效应和量子隧道效应。因此,量子点具有传统有机染料无法比拟的荧光特征,如量子点的尺寸控制着光的吸收和发射光谱、具有较大的斯托克斯位移、峰形对称、激发光波长范围宽、光强度高、稳定性好等优点,可广泛应用于一些重金属离子如Hg2+、Cu2+、Zn2+等的定量检测,但是对这些无机金属离子的检测也仅限于偏中性环境体系。目前还没有关于利用量子点检测酸性高放废液中Pd的相关文献和报道。
发明内容
针对现实的需要,本发明的目的是提供一种利用荧光探针检测高放废液中Pd的方法,该方法操作简单,灵敏度高,检测限低,选择性好,分析速度快,取样量少,且适用于酸性体系。
为达到以上目的,本发明采用的技术方案是:一种利用荧光探针检测高放废液中Pd的方法,包括以下步骤:
采用水溶性CdSe/ZnS量子点为荧光探针,获取水溶性CdSe/ZnS量子点测定Pd的光谱条件和检测条件;
配制Pd的标准溶液,根据所述光谱条件和检测条件,建立水溶性CdSe/ZnS量子点检测Pd的标准曲线;
依据所述光谱条件、检测条件和标准曲线,检测高放废液中Pd的浓度。
进一步,所述光谱条件是指水溶性CdSe/ZnS量子点测定Pd的最佳激发光波长和最大发射光波长。最佳激发光波长和最大发射光波长可通过已知的扫谱方法获得,本文不再赘述。
进一步,所述检测条件包括量子点浓度、测量体系pH值和检测时间。
再进一步,检测条件中,测量体系pH值为3;检测时间为荧光探针和被检样品混合发生反应后15-30min。
进一步,所述水溶性CdSe/ZnS量子点是表面基团为羧基的CdSe/ZnS量子点(下文简称“羧基量子点”)或表面基团为氨基的CdSe/ZnS量子点(下文简称“氨基量子点”)。
再进一步,当所述水溶性CdSe/ZnS量子点是表面基团为羧基的CdSe/ZnS量子点时,且测量体系中量子点浓度为10nmol/L以及被检样品中Pd浓度为0.04-0.96mg/L时,加入Pd离子后量子点的荧光强度F的对数值与Pd2+浓度c呈线性关系,其线性回归方程式为logF=-0.00713c+3.57(R2=0.996)。
或者,当所述水溶性CdSe/ZnS量子点是表面基团为氨基的CdSe/ZnS量子点时,且测量体系中量子点浓度为10nmol/L以及被检样品中Pd浓度为0.2-1.2mg/L时,加入Pd离子后量子点的荧光强度F与Pd2+浓度c呈线性关系,其线性回归方程式为F=-185.5c+3286(R2=0.999)。
本发明具有以下优点:
第一、本方法操作简单,分析速度快,灵敏度高,检测限低,最低检测限为0.04mg/L。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国原子能科学研究院,未经中国原子能科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410840665.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。