[发明专利]用于X射线相位衬度成像的积分水桶相位测量方法

权利要求书

1.一种用于X射线相位衬度成像的积分水桶相位测量方法，应用于X射线相位衬度成像系统，该系统包括X光机(1)、源光栅(2)、分束光栅(3)、样品室(4)、分析光栅(5)和X射线探测器(6)，其持征在于，包括如下步骤：

S1、在垂直于光路的横向平面上，沿垂直于分析光栅的栅条方向上使分析光栅在一个光栅周期内做连续的往复直线运动，同时使样品室保持间歇性的旋转运动，期间，X射线探测器一直在采集图像，分析光栅每运动一个单位步距，探测器采集一张图像，即一张图像的曝光时间等于分析光栅移动一个单位步距的时间；所述分析光栅的周期性往复运动的运动模式是匀速运动或弹簧谐振子运动；

S2、根据步骤S1采集的图像计算样品的相位信息；

在所述步骤S2中，通过如下公式计算样品的折射图像：

其中，是所采集的图像的像素(m,n)处的折射角，k是累加求和过程中的变量，N是积分水桶测量方法在位移曲线一个周期内划分区间的数量，是第k步采集到的样品图像中像素(m,n)的灰度值，是第k步采集到的背景图像中像素(m,n)的灰度值，d是分析光栅的周期，z_T是样品和分析光栅之间的距离。

2.如权利要求1所述的用于X射线相位衬度成像的积分水桶相位测量方法，其特征在于，所述分析光栅的单方向位移的大小是所述单位步距的整数倍。

3.如权利要求2所述的用于X射线相位衬度成像的积分水桶相位测量方法，其特征在于，所述整数为大于或等于4的整数。